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题名推扫型干涉成像光谱仪去除条带非均匀性的方法
被引量：1
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作者
曹玮亮
廖宁放
崔德琪
谭博能
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机构
北京理工大学光电学院颜色科学与工程实验室
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出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期587-590,共4页
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基金
国家高技术研究发展计划(No.2006AA12Z124)资助
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文摘
分析了推扫型干涉成像光谱仪的结构特点和工作原理,指出了由于加工误差导致入射狭缝的宽度不均匀,使干涉图像沿狭缝方向存在亮度差异,复原后的光谱立方体图像上出现平行于推扫方向的非均匀性条带,影响了光谱立方体的图像质量和光谱精确度.采取校正系数法去除条带,讨论了获取校正系数的方法,并使用仪器的定标干涉数据提取成像面上沿狭缝方向的不均匀特性,获得了校正系数,对干涉图像进行处理以消除条带.结果表明:校正系数法能够去除大部分条带.根据处理后残余条带的情况,在没有在轨定标数据的情况下,使用均匀景物的光谱立方体数据提取不均匀特性,修改了校正系数,有效地消除了残余条带.
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关键词
推扫
干涉成像光谱仪
狭缝
去除条带
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Keywords
Push-broom
Interferential imaging spectrometer
Slit
Stripe-reduction
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分类号
TP751
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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