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3.3-27.8 KeVX射线能区Cu的光电截面测量
1
作者
王大椿
杨华
+1 位作者
汪新福
周宏余
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第S1期154-154,共1页
用质子激发单元素靶或化合物靶产生的特性X射线作为光源,用Si(Li)谱仪测量X射线谱,用穿透法测量Cu的质量衰减系数或总的衰减截面。上述光源的特点是:(1)信噪比好,比放射性同位素X光源或光机—二次靶组合光源的信噪比好1—2量级。(2)不...
用质子激发单元素靶或化合物靶产生的特性X射线作为光源,用Si(Li)谱仪测量X射线谱,用穿透法测量Cu的质量衰减系数或总的衰减截面。上述光源的特点是:(1)信噪比好,比放射性同位素X光源或光机—二次靶组合光源的信噪比好1—2量级。(2)不象放射性同位素光源那样受限制,只要选择合适的元素作靶,就可得到一系列能量合适的X光源供实验使用。
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关键词
衰减截面
穿透法
质量衰减系数
CU
KeVX射线
射线能
元素靶
信噪比
线谱
特征射线
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职称材料
题名
3.3-27.8 KeVX射线能区Cu的光电截面测量
1
作者
王大椿
杨华
汪新福
周宏余
机构
北京市辐射中心 北京师范大学低能核物理所
出处
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第S1期154-154,共1页
基金
IAEA资助项目
文摘
用质子激发单元素靶或化合物靶产生的特性X射线作为光源,用Si(Li)谱仪测量X射线谱,用穿透法测量Cu的质量衰减系数或总的衰减截面。上述光源的特点是:(1)信噪比好,比放射性同位素X光源或光机—二次靶组合光源的信噪比好1—2量级。(2)不象放射性同位素光源那样受限制,只要选择合适的元素作靶,就可得到一系列能量合适的X光源供实验使用。
关键词
衰减截面
穿透法
质量衰减系数
CU
KeVX射线
射线能
元素靶
信噪比
线谱
特征射线
分类号
O4 [理学—物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
3.3-27.8 KeVX射线能区Cu的光电截面测量
王大椿
杨华
汪新福
周宏余
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
1990
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