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题名电流拥挤效应与LED器件可靠性分析
被引量：6
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作者
吴艳艳
冯士维
乔彦斌
魏光华
张建伟
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机构
北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性实验室
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出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第8期1051-1056,共6页
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基金
广东省战略性新兴产业专项资金LED产业项目(2012A080304003)
北京市自然科学基金(4130022)资助项目
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文摘
对小功率GaN基白光LED的电流拥挤效应进行了研究,发现串联灯组(8只为一组)在经过22 V电压冲击后出现漏电失效现象。通过Pspice软件对串联LED灯组进行模拟,发现与其他样品相比,受损样品承受了更大的电压和功率;对器件加-2 V偏压,利用光发射(EMMI)显微镜对芯片表面不同量级漏电流进行定位分析比较,结果表明漏电流集中在p型扩展电极端点附近。分析认为,电压冲击的破坏路径穿过了LED的量子阱结构,而电流的不均匀分布造成了p型扩展电极附近的电流拥挤,加剧了pn结的损伤程度,提高电流扩展的均匀性可以有效提高LED的可靠性。最后还对在正向电流-电压区域出现微分负阻特性的器件进行了失效分析。
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关键词
光学器件
电流拥挤
发光二极管
EMMI
可靠性
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Keywords
optical device
current crowding
LED
EMMI
reliability
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分类号
O482.31
[理学—固体物理]
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题名电子元器件加速寿命试验方法的比较
被引量：24
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作者
刘婧
吕长志
李志国
郭春生
冯士维
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机构
北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性实验室
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第9期680-683,共4页
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文摘
加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法。目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验。简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍。
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关键词
加速寿命试验
电子元器件
可靠性
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Keywords
accelerated life test
electronic component
reliability
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分类号
TN306
[电子电信—物理电子学]
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