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锗硅表面结构和动态过程的STM研究
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作者 盖峥 杨威生 《电子显微学报》 CAS CSCD 2000年第2期104-112,共9页
本文综述了我们利用扫描隧道显微镜和低能电子衍射对锗硅表面结构和动态过程进行的系统化和比较性的研究。研究结果除了具有重要的基础意义外 ,对半导体异质外延生长衬底选择以及量子线和量子点自组织生长模板的选择都有指导意义。
关键词 STM 表面结构 动态过程 半导体
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STM在纳米科技中的应用几例 被引量:3
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作者 盖峥 于洪滨 +1 位作者 何谊 杨威生 《电子显微学报》 CAS CSCD 1997年第6期693-696,共4页
本文简述了我们用超高真空STM在介观物理和纳米科技前沿领域做的一些探索和结果。
关键词 扫描隧道显微镜 STM 纳米科技 电子显微镜
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利用近场光谱研究GaN蓝光二极管的杂质发光 被引量:1
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作者 凌勇 周赫田 +3 位作者 朱星 黄贵松 党小忠 张国义 《电子显微学报》 CAS CSCD 1999年第1期43-47,共5页
运用近场光谱方法研究了在蓝宝石衬底上用低压MOCVD方法外延生长的GaN蓝光二极管的杂质发光光谱。研究结果表明近场光谱为研究样品表面微观发光机理中提供了一个有力的手段,它能够给出样品表面微区空间分辨的局域光谱信息。本... 运用近场光谱方法研究了在蓝宝石衬底上用低压MOCVD方法外延生长的GaN蓝光二极管的杂质发光光谱。研究结果表明近场光谱为研究样品表面微观发光机理中提供了一个有力的手段,它能够给出样品表面微区空间分辨的局域光谱信息。本文给出了研究中所观察到的一些实验现象。 展开更多
关键词 SNOM 氮化镓 蓝光 二极管 杂质发光 近场光谱
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