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Si-PIN硅条带探测器的电子学测试
被引量：
4
1
作者
邹鸿
陈鸿飞
+4 位作者
邹积清
宁宝俊
施伟红
田大宇
张录
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期170-173,共4页
采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试。Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量。介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的...
采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试。Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量。介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题。
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关键词
硅条带探测器
空间粒子探测
耗尽电容
条间串扰
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职称材料
题名
Si-PIN硅条带探测器的电子学测试
被引量：
4
1
作者
邹鸿
陈鸿飞
邹积清
宁宝俊
施伟红
田大宇
张录
机构
北京大学
空间物理与应用技术研究所
北京大学微电子所北京
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第2期170-173,共4页
基金
国家自然科学杰出青年基金资助(40425004)
文摘
采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试。Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量。介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题。
关键词
硅条带探测器
空间粒子探测
耗尽电容
条间串扰
Keywords
Si-PIN strip detector
particle directions in space
分类号
TL814 [核科学技术—核技术及应用]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Si-PIN硅条带探测器的电子学测试
邹鸿
陈鸿飞
邹积清
宁宝俊
施伟红
田大宇
张录
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
4
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