多任务并发测试技术在提高测试效率降低测试成本中的应用

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作者 刘惠鹏 尹诗龙 闫肃 《中国集成电路》 2013年第9期63-67,80,共6页

本文介绍了多任务并发测试技术的基本原理。采用此技术后,可大大提升测试效率,降低测试成本。

关键词 单任务 多任务 并发测试技术 转盘式分选机 PMIC

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微电子器件测试技术(中) 被引量：1

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作者 孙铣 《电子质量》 2005年第7期7-9,共3页

关键词 微电子器件 测试技术 测试向量 用户程序 CPU 测试程序 数字电路 失效模式 工作方式

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微电子器件测试技术(上) 被引量：1

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作者 孙铣 《电子质量》 2005年第6期8-10,共3页

本文分析了微电子器件的发展趋势,论述了微电子器件的测试筛选与质量控制的关系。重点结合了华峰测控的STS2100系列测试系统介绍了各种微电子器件的相关测试技术,同时也介绍了测试失效分析及其重要性。

关键词 微电子器件 测试技术 STS2100系列 发展趋势 质量控制 测试系统 失效分析

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微电子器件测试技术(下)

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作者 孙铣 《电子质量》 2005年第8期6-8,共3页

关键词 测试技术 微电子器件 电压调整器 集成稳压器 外围电路 模拟电源 技术难点 调整率 稳定性

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运算放大器的闭环参数测试 被引量：7

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作者 孙铣 段宁远 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第9期64-67,共4页

介绍了运算放大器闭环参数的测试原理,分析了影响运算放大器闭环参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素,及所采取的针对性措施,还探讨了闭环参数的测试精度、测试稳定性和测试适应性的评价问题。介绍了STS 2107C模拟器件测试系统。

关键词 运算放大器 闭环参数 测试精度 稳定性 适应性

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浮动电压电流源在IC测试中的应用 被引量：1

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作者 闫肃 刘惠鹏 《中国集成电路》 2012年第3期69-73,共5页

本文介绍了浮动电压电流源(Floating VI source,简称"浮动源")的基本原理及应用注意事项,并以一颗LDO为例介绍了浮动源的实际测试中的典型应用。

关键词 浮动源 电压叠加 电流叠加

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ATE中的浮动V/I源 被引量：3

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作者 孙铣 《中国集成电路》 2011年第11期55-63,共9页

本文论述了浮动V/I源和共地V/I源的构造区别,及在开尔文检测和多工位并测方面的差异,论述了浮动V/I源的各种类型和应用优势,并分析了浮动V/I源的共模干扰和与此相关的一些认识误区。关键词:浮动V/I源;共地V/I源;多工位并测;

关键词 浮动V/I源 共地V/I源 多工位并测 共模干扰

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我国的IC产业和IC测试 被引量：1

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作者 孙铣 《中国集成电路》 2002年第5期79-84,共6页

集成电路IC一直是发展最迅速的产业之一。随着计算机技术和半导体技术的飞速发展,IC几乎渗透到了一切领域。现在已无法想象没有IC当今世界将会怎样。

关键词 测试系统 测试中心 产业 小规模集成电路 发展趋势 集成度 国外企业 验证系统 封装业 专用集成电路

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电子元器件测试系统选型方法 被引量：1

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作者 孙铣 《电子质量》 2005年第3期13-18,共6页

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和“小而全”测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出... 文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和“小而全”测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法。 展开更多

关键词 企业 进口 需求 体制 看法 电子元器件 利弊 测试系统 选型方法 整机

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全新构架的中大功率分立器件测试系统STS8203 被引量：1

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作者 徐捷爽 《中国集成电路》 2012年第10期85-87,共3页

本文介绍了AccoTEST最新推出的基于STS8200总线平台,配以高压、大电流的测试板卡、雪崩测试板和热阻测试板,并在一个系统中完成并行的直流(DC)和交流(AC)分站测试的中大功率分立器件测试系统STS8203。

关键词 STS8203 8200 板卡级 并发技术 同一平台

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功率器件的瞬态热阻测试 被引量：1

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作者 孙铣 《中国集成电路》 2012年第12期62-66,共5页

本文介绍了半导体器件热阻的基本概念,讨论了稳态热阻和瞬态热阻的差别,并重点论述了瞬态热阻的测试原理和方法,说明了瞬态热阻测试的技术难点,还对瞬态热阻的测试条件与合格判据的设定提出原则性建议。

关键词 瞬态热阻 热敏参数 结温 参考点温度

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基于ATE平台的PMIC调试体会

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作者 庞磊 李朔男 《中国集成电路》 2012年第9期68-72,78,共6页

本文以一个典型的手机电源管理芯片为例,阐述了基于ATE平台的电源管理集成电路(PMIC)量产调试方面的个人体会。

关键词 电源管理芯片 PMIC ATE 硬件扫描

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整机企业电子元器件测试系统选型

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作者 孙铣 《中国集成电路》 2002年第3期94-101,共8页

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和... 文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法。 展开更多

关键词 模拟测试系统 系统选型 电子元器件 元器件测试 测试软件 企业 整机 技术支持 运算放大器 测试程序

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STS 2100系列电子元器件测试系统

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作者 孙铣 《世界电子元器件》 1999年第8期58-61,共4页

STS 2100系统是北京华峰测控技术公司自行研制开发的系列化电子元器件测试系统,本文结合该系统的总体设计思想,分析、比较探讨了各类小型智能化电子元器件测试系统的特点,并对测试系统如何适合我国国情的问题提出了看法。

关键词 电子元器件 测试系统 STS2100系列

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电子元器件测试系统选型中的若干问题

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作者 孙铣 《世界电子元器件》 1999年第12期44-48,共5页

一、测试需求和测试成本 电子元器件的测试必要性是显而易见的,尤其是近年来“电子垃圾”(假冒伪劣电子元器件)涌入国内市场,鱼目混珠,严重威胁了整机和系统的可靠性,这一情况已经引起了很多单位的重视,进而配备了不同档次的测试系统对... 一、测试需求和测试成本 电子元器件的测试必要性是显而易见的,尤其是近年来“电子垃圾”(假冒伪劣电子元器件)涌入国内市场,鱼目混珠,严重威胁了整机和系统的可靠性,这一情况已经引起了很多单位的重视,进而配备了不同档次的测试系统对元器件进行测试和筛选。 展开更多

关键词 电子元器件 测试系统 选型

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PWM器件的量产测试方案

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作者 王崧淼 《中国集成电路》 2011年第8期59-63,共5页

本文介绍了主要的PWM器件分类,并在此基础上,重点介绍了基于STS8200平台的PWM器件量产多工位并行测试解决方案,以及并行测试中的注意事项。

关键词 PWM器件 并行测试

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