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小规模非规则TRSM实现与优化
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作者 郭容园 贾海鹏 +4 位作者 张云泉 韦存阳 邓明森 陈婧蕊 周振亚 《计算机研究与发展》 北大核心 2025年第2期517-531,共15页
TRSM(triangular matrix equation solver)是线性方程组求解的常用算法,是各种科学计算库和数学软件的核心算法,广泛应用于科学计算、工程计算、机器学习等领域.小规模非规则TRSM算法限定解决问题范围,是高效处理较小规模、非规则数据... TRSM(triangular matrix equation solver)是线性方程组求解的常用算法,是各种科学计算库和数学软件的核心算法,广泛应用于科学计算、工程计算、机器学习等领域.小规模非规则TRSM算法限定解决问题范围,是高效处理较小规模、非规则数据输入的算法.随着高性能计算领域个性化、精细化发展,科学界、工业界对小规模非规则TRSM计算的需求愈加明显.传统算法更偏重于大规模、规则TRSM的计算,在小规模非规则TRSM计算上效率不佳.结合硬件体系结构、应用场景特征提出小规模非规则TRSM优化方案,从寄存器分块、边界处理、向量化计算角度设计高性能内核,在此基础上构建覆盖双精度实数、双精度复数的小规模非规则算法库SI_TRSM(small-scale irregular TRSM),大幅度提升该算法性能.实验结果表明,构建的双精度小规模非规则TRSM算法库,较MKL(Intel math kernel library)同类算法,在双精度小规模非规则实数上平均性能提高29.4倍,在双精度小规模非规则复数上平均性能提高24.6倍. 展开更多
关键词 TRSM算法 BLAS 小规模非规则 SIMD 汇编优化
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面向三重版图曝光约束的详细布线算法
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作者 梁小宇 孙若涵 +1 位作者 徐宁 张亚东 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2024年第4期575-581,共7页
在进一步缩小特征尺寸的问题上,三重版图曝光技术(triplepatterninglithography,TPL)发挥着重要的作用.针对TPL中的版图分解问题,提出了一种基于TPL约束的详细布线算法.将版图分解问题转化为满足同色间距约束和最小间距约束的详细布线问... 在进一步缩小特征尺寸的问题上,三重版图曝光技术(triplepatterninglithography,TPL)发挥着重要的作用.针对TPL中的版图分解问题,提出了一种基于TPL约束的详细布线算法.将版图分解问题转化为满足同色间距约束和最小间距约束的详细布线问题,使用网格编码的方法来满足2种间距约束;利用与2种间距约束相结合的Hannan网格来提升布线资源的利用率以及布线的速度;结合多源迪杰斯特拉算法进行多端线网的最短路径搜索;最后将布线结果进行版图分解,实现最小化冲突数量和缝合点数量的目标.算法在2.20 GHzCPU和32 GB内存的Ubuntu20.04环境下运行,使用2018年ISPD详细布线比赛的测试集.实验结果表明,与普通详细布线相比,可降低约60%的冲突数量以及70%的缝合点数量. 展开更多
关键词 三重版图曝光 版图分解 详细布线 缝合点
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多重掩模场景详细布线算法
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作者 武洁 吴皓莹 +1 位作者 徐宁 张亚东 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2024年第4期591-597,共7页
为了在多重掩模自动布线场景中取得缝线数目较少、总线长较小的布线效果,提出一种基于虚拟格点(virtual-vertex,V-V)模型的满足多重掩模约束的详细布线算法.首先在均匀网格下构建可以支持同色及异色间距的V-V模型,V-V的规模由工艺文件... 为了在多重掩模自动布线场景中取得缝线数目较少、总线长较小的布线效果,提出一种基于虚拟格点(virtual-vertex,V-V)模型的满足多重掩模约束的详细布线算法.首先在均匀网格下构建可以支持同色及异色间距的V-V模型,V-V的规模由工艺文件中定义的布线层的掩模数决定;然后为每个多端线网生成考虑多重掩模约束的最短路径拓扑结构,并将多端线网分解为多个双端线网;最后基于提出的V-V模型结合搜索算法,以最短路径拓扑结构作为指导,对每个双端线网完成自动布线,并通过代价函数严格控制缝线的引入,保证了以最小缝线数完成线网的连接.在详细布线比赛的基准测试集及其衍生测例进行实验的结果表明,与布线完成后再进行掩模分配的技术方案相比,所提算法可以减少约26%的缝线数. 展开更多
关键词 多重掩模 集成电路自动布线 V-V模型
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利用命题逻辑最大可满足性的冗余通孔最优插入方法
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作者 杨成 杨骏 张亚东 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第7期1132-1138,共7页
在纳米尺度的集成电路设计中,冗余通孔插入是减轻通孔失效造成良率降低问题的常用技术.文中将最优冗余通孔插入问题规约到命题逻辑最大逻辑可满足性(maximum satisfiability,Max SAT)问题,并利用完备求解器求取最优解.Max SAT问题是一... 在纳米尺度的集成电路设计中,冗余通孔插入是减轻通孔失效造成良率降低问题的常用技术.文中将最优冗余通孔插入问题规约到命题逻辑最大逻辑可满足性(maximum satisfiability,Max SAT)问题,并利用完备求解器求取最优解.Max SAT问题是一个NP困难问题,采用2种方法来降低求解难度;一是预选取方法,将提前确定的不与其他通孔产生冲突的冗余通孔作为部分解来降低问题的规模;二是分治法,根据连通分量将原问题划分成多个子问题分别求解,降低求解的复杂度.同时,从理论上证明这2种方法能够保证解的最优性.在2019年国际物理设计研讨会(ISPD)举办的详细布线比赛基准测试集上进行实验的结果表明,所提出的插入方法带来的时间开销不到详细布线时间的5%,算法的最优性保证了最大化解决插入冲突后的插入率,在所有可插入通孔中,冗余通孔的插入率为67%~87%. 展开更多
关键词 冗余通孔插入 命题逻辑最大可满足性问题 版图后优化 可制造性设计
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