期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
双界面智能卡芯片模拟前端ESD设计
1
作者 李志国 孙磊 潘亮 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期269-274,共6页
双界面智能卡芯片静电放电(ESD)可靠性的关键是模拟前端(AFE)模块的ESD可靠性设计,如果按照代工厂发布的ESD设计规则设计,AFE模块的版图面积将非常大。针对双界面智能卡芯片AFE电路结构特点和失效机理,设计了一系列ESD测试结构。通过对... 双界面智能卡芯片静电放电(ESD)可靠性的关键是模拟前端(AFE)模块的ESD可靠性设计,如果按照代工厂发布的ESD设计规则设计,AFE模块的版图面积将非常大。针对双界面智能卡芯片AFE电路结构特点和失效机理,设计了一系列ESD测试结构。通过对这些结构的流片和测试分析,研究了器件设计参数和电路设计结构对双界面智能卡芯片ESD性能的影响。定制了适用于双界面智能卡芯片AFE模块设计的ESD设计规则,实现对ESD器件和AFE内核电路敏感结构的面积优化,最终成功缩小了AFE版图面积,降低了芯片加工成本,并且芯片通过了8 000 V人体模型(HBM)ESD测试。 展开更多
关键词 双界面智能卡 模拟前端(AFE) 静电放电(ESD) 人体模型(HBM) 设计规则 芯片成本
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部