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功率晶体管稳态工作寿命试验条件研究 被引量:3
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作者 张德骏 苗庆海 +2 位作者 张兴华 杨列勇 曹红 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第4期45-47,共3页
介绍了现行标准规定的功率晶体管稳态工作寿命试验条件,讨论了试验条件的选择问题,提出了选择最高结温TJM、最大额定功率Ptotmax和与Ptotmax相应的壳温Tc作为试验条件的观点。
关键词 工作寿命 试验条件 功率晶体管
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提高功率晶体管封装性能的技术措施 被引量:2
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作者 张德骏 苗庆海 +2 位作者 张兴华 曹红 贾颖 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第8期74-78,共5页
在对功率晶体管封装方式进行技术分析的基础上,提出了一种改善功率晶体管封装性能的技术措施,并介绍了利用这种技术措施研制的功率晶体管的功能特征。
关键词 功率晶体管 封装方式 技术措施
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提高功率管稳态工作寿命试验可信度的技术措施 被引量:7
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作者 曹红 贾颖 +2 位作者 张德骏 苗庆海 张兴华 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第5期57-60,共4页
提出了一种提高功率晶体管稳态工作寿命试验可信度的技术措施,利用这一技术措施,可以在试验过程中实时测量并严格控制晶体管的结温达到最高允许结温,从而提高了试验的可信度。
关键词 功率晶体管 工作寿命试验 可信度
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