期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
XPS、AFM和ToF-SIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用 被引量:7
1
作者 雷晓春 林鹿 李可成 《中国造纸学报》 EI CAS CSCD 2006年第4期97-101,共5页
介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造... 介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题。 展开更多
关键词 XPS AFM ToF—SIMS 原理 纤维表面
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部