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脉冲频率对HiPIMS制备TiN薄膜组织和力学性能的影响
被引量:
3
1
作者
高海洋
张斌
+2 位作者
魏殿忠
但敏
金凡亚
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2022年第5期192-199,共8页
为探究脉冲频率对通过高功率脉冲磁控溅射制备TiN薄膜组织力学性能的影响,选用Ti靶和N2气体,采用反应磁控溅射技术通过改变高功率脉冲磁控溅射(HiPIMS)电源脉冲频率在Si(100)晶片上制备不同种TiN薄膜。利用X射线衍射仪(XRD)、X射线光电...
为探究脉冲频率对通过高功率脉冲磁控溅射制备TiN薄膜组织力学性能的影响,选用Ti靶和N2气体,采用反应磁控溅射技术通过改变高功率脉冲磁控溅射(HiPIMS)电源脉冲频率在Si(100)晶片上制备不同种TiN薄膜。利用X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪和扫描电子显微镜(SEM)对所制薄膜晶体结构和成分、表面和断面形貌进行分析,利用纳米压痕仪对薄膜的硬度和弹性模量进行表征,并计算H/E和H^(3)/E^(2)。结果表明,高离化率Ti离子轰击促使薄膜以低应变能的晶面优先生长,所制TiN薄膜具有(111)晶面择优取向。薄膜平均晶粒尺寸均在10.3 nm以下,随着脉冲频率增大晶粒尺寸增大,结晶度和沉积速率降低,柱状生长明显,致密度下降,影响薄膜力学性能。在9 kHz时,TiN薄膜的晶粒尺寸可达8.9 nm,薄膜组织致密具有最高硬度为30 GPa,弹性模量374 GPa,弹性恢复为62.9%,具有最优的力学性能。
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关键词
高功率脉冲磁控溅射(HiPIMS)
脉冲频率
TIN薄膜
微观组织
力学性能
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职称材料
题名
脉冲频率对HiPIMS制备TiN薄膜组织和力学性能的影响
被引量:
3
1
作者
高海洋
张斌
魏殿忠
但敏
金凡亚
机构
中国科学院
兰州
化学物理研究所材料磨损与防护重点实验室
中国科学院大学材料与光电技术学院
兰州精新电源设备有限公司
核工业西南物理研究院等离子体工程研究中心
出处
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2022年第5期192-199,共8页
基金
甘肃省科技支撑(20YF8WA006)
中国科学院青年创新促进会(2017489)资助项目
文摘
为探究脉冲频率对通过高功率脉冲磁控溅射制备TiN薄膜组织力学性能的影响,选用Ti靶和N2气体,采用反应磁控溅射技术通过改变高功率脉冲磁控溅射(HiPIMS)电源脉冲频率在Si(100)晶片上制备不同种TiN薄膜。利用X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪和扫描电子显微镜(SEM)对所制薄膜晶体结构和成分、表面和断面形貌进行分析,利用纳米压痕仪对薄膜的硬度和弹性模量进行表征,并计算H/E和H^(3)/E^(2)。结果表明,高离化率Ti离子轰击促使薄膜以低应变能的晶面优先生长,所制TiN薄膜具有(111)晶面择优取向。薄膜平均晶粒尺寸均在10.3 nm以下,随着脉冲频率增大晶粒尺寸增大,结晶度和沉积速率降低,柱状生长明显,致密度下降,影响薄膜力学性能。在9 kHz时,TiN薄膜的晶粒尺寸可达8.9 nm,薄膜组织致密具有最高硬度为30 GPa,弹性模量374 GPa,弹性恢复为62.9%,具有最优的力学性能。
关键词
高功率脉冲磁控溅射(HiPIMS)
脉冲频率
TIN薄膜
微观组织
力学性能
Keywords
high-power impulse magnetron sputtering(HiPIMS)
pulse frequency
TiN films
microstructure
mechanical property
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
TG174 [金属学及工艺—金属表面处理]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
脉冲频率对HiPIMS制备TiN薄膜组织和力学性能的影响
高海洋
张斌
魏殿忠
但敏
金凡亚
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2022
3
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