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ITO/Rubrene表面及界面的AFM和XPS研究
被引量：
3
1
作者
王金顺
李海蓉
+1 位作者
彭应全
向东旭
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第2期207-212,共6页
采用原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究了氧化铟锡(ITO)/红荧烯(Rubrene)的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示,ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰,位于282.50,284.70,289.30 eV,对应于C—Si...
采用原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究了氧化铟锡(ITO)/红荧烯(Rubrene)的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示,ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰,位于282.50,284.70,289.30 eV,对应于C—Si、CO和C—C键。用氩离子束溅射表面,芳香碳对应的峰值逐渐增大,其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除,O1s峰先快速减弱然后逐渐增强。界面附近的O原子与C原子结合构成OC、C—O—C和醛基。In3d和Sn3d峰则缓慢增强,在界面附近峰值变得稳定。C1s、In3d、Sn3d谱峰都向低束缚能发生化学位移,表明ITO与Rubrene在界面发生了相互作用,形成一个互扩散层。
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关键词
XPS
RUBRENE
化学位移
界面态
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职称材料
题名
ITO/Rubrene表面及界面的AFM和XPS研究
被引量：
3
1
作者
王金顺
李海蓉
彭应全
向东旭
机构
兰州大学
物理
科学与
技术
学院
微电子研究所
兰州大学物理科学与技术学院磁学重点实验室
出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第2期207-212,共6页
基金
兰州市科技计划(2010-1-1)
兰州市城关区科技计划(2011-5-2)
信息功能材料国家重点实验室开放课题(12-668)资助项目
文摘
采用原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究了氧化铟锡(ITO)/红荧烯(Rubrene)的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示,ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰,位于282.50,284.70,289.30 eV,对应于C—Si、CO和C—C键。用氩离子束溅射表面,芳香碳对应的峰值逐渐增大,其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除,O1s峰先快速减弱然后逐渐增强。界面附近的O原子与C原子结合构成OC、C—O—C和醛基。In3d和Sn3d峰则缓慢增强,在界面附近峰值变得稳定。C1s、In3d、Sn3d谱峰都向低束缚能发生化学位移,表明ITO与Rubrene在界面发生了相互作用,形成一个互扩散层。
关键词
XPS
RUBRENE
化学位移
界面态
Keywords
XPS
Rubrene
chemical shift
interfacial state
分类号
TN383+.1 [电子电信—物理电子学]
TN304 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ITO/Rubrene表面及界面的AFM和XPS研究
王金顺
李海蓉
彭应全
向东旭
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014
3
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