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有限元模拟技术在电子部件可靠性分析中的应用被引量：3: 1; 作者何小琦邱宝军 +1 位作者宋芳芳杨序贵《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期65-67,共3页; 分析了有限元计算模拟技术在分析电子部件可靠性的优势所在,以及应用的基本方法,给出了行波管电子枪抗振性能和功率DC/DC电源热性能计算模拟的两个应用案例。; 关键词有限元电子枪固有频率模块结温; 在线阅读下载PDF 职称材料

加强可靠性物理基础研究,提升应用技术能力: 2; 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期51-55,共5页; 对研制生产、使用中元器件失效的原因和机理进行研究分析,提出改进措施,不断提高元器件可靠性是元器件可靠性科研和技术服务的任务所在。近年来元器件可靠性物理及其应用技术研究条件实现了跨越式发展,研究领域不断延伸、拓展,科研成果... 展开更多; 关键词可靠性物理可靠性应用技术失效分析; 在线阅读下载PDF 职称材料

电子元器件的贮存可靠性及评价技术被引量：3: 3; 作者杨丹恩云飞黄云《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期71-74,共4页; 贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面。阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。; 关键词贮存可靠性长期自然贮存极限应力试验加速贮存寿命试验; 在线阅读下载PDF 职称材料

VLSI失效分析技术研究进展: 4; 作者费庆宇《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期60-64,共5页; 根据近年来的实践,介绍了亚微米/深亚微米多层布线结构的VLSI的失效分析的关键技术和加快失效分析程序的方法。包括:先进的芯片剥层技术和局部剖切面技术、以失效分析为目的的电测试技术和故障定位技术及其简化方法。通过一些失效分析... 展开更多; 关键词大规模集成电路失效分析样品制备技术; 在线阅读下载PDF 职称材料

超深亚微米集成电路可靠性技术: 5; 作者恩云飞孔学东《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期56-59,共4页; 就超深亚微米集成电路中高k栅介质、金属栅、Cu/低k互连等相关可靠性热点问题展开讨论,针对超深亚微米集成电路可靠性问题,提出可靠性设计、生产过程的质量控制、可靠性评价与失效分析是集成电路可靠性综合评价与保证的核心思想,为产品... 展开更多; 关键词超深亚微米集成电路可靠性高K栅介质金属栅 Cu/低k互连; 在线阅读下载PDF 职称材料

PCBA-PTH焊点失效原因分析被引量：2: 6; 作者贺光辉罗道军郑廷圭《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期78-80,共3页; 介绍了一例典型的PCB过波峰焊后焊点润湿不良原因分析的案例。分析结果表明由于孔壁镀层厚度太薄、冲孔(钻孔)质量差以及孔焊盘锡铅镀层太薄等原因导致焊点润湿不良。; 关键词印制电路板润湿不良镀层厚度钻孔质量; 在线阅读下载PDF 职称材料

RoHS管理物质分析技术中的制样检测方法: 7; 作者周翠凤罗道军《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期75-77,共3页; 对国内外在分析检测中受RoHS指令管理的有毒有害物质的制样检测技术进行了总结、分析与研究。在国际上尚未有统一的检测标准前,通过深入地了解RoHS指令的内容而形成了行之有效的检测分析制样检测技术。解决了广大电子电器企业的技术难题... 展开更多; 关键词 ROHS指令均匀材料制样检测技术有毒有害物质; 在线阅读下载PDF 职称材料

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