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信息产业发展水平综合评价体系研究 被引量:6
1
作者 李敏 陈敏 任明仑 《科技进步与对策》 CSSCI 北大核心 2007年第4期124-127,共4页
科学地分析信息产业发展水平是制定信息产业相关政策的重要基础。通过对信息产业发展阶段特征的综合分析,提出了一套科学的信息产业发展水平评价指标体系,运用层次分析法对评价指标进行综合分析,对国家信息产业发展水平作出了基本评价... 科学地分析信息产业发展水平是制定信息产业相关政策的重要基础。通过对信息产业发展阶段特征的综合分析,提出了一套科学的信息产业发展水平评价指标体系,运用层次分析法对评价指标进行综合分析,对国家信息产业发展水平作出了基本评价。通过对12个国家信息产业发展水平进行综合评价,对不同国家信息产业发展水平进行聚类分析,从而分析总结出信息产业各个发展层次的主要特征,为进一步制定信息产业发展的相关战略和政策提供了理论依据。 展开更多
关键词 信息产业 发展水平 评价体系 特征分析
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电子元器件镍金复合镀层厚度测试方法研究 被引量:3
2
作者 刘磊 卢思佳 +1 位作者 周帅 王斌 《中国测试》 CAS 北大核心 2017年第3期9-14,共6页
目前,电子元器件复合金属镀层厚度的测量主要采用具有破坏性的金相切片法,该方法会对样品造成不可逆损伤。鉴于此,该文提出先培养基片,再通过X射线荧光测厚仪测量复合镀层厚度的基于过程工艺控制的无损检测法,并探究双层和三层镍金复合... 目前,电子元器件复合金属镀层厚度的测量主要采用具有破坏性的金相切片法,该方法会对样品造成不可逆损伤。鉴于此,该文提出先培养基片,再通过X射线荧光测厚仪测量复合镀层厚度的基于过程工艺控制的无损检测法,并探究双层和三层镍金复合镀层结构,得到内层镀层对外层镀层测量的影响因子,并研究其测量误差。实验结果表明:该培养基片法在不破坏样品的情况下实现电子元器件复合金属镀层厚度的精确测量,为电子元器件生产过程中复合镀层厚度的控制提供技术支持,进一步完善电子元器件镀涂工艺。 展开更多
关键词 复合金属镀层 厚度测量 x射线荧光测厚法 培养基片法 影响因子
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创客模式下传统产业诚信合作创新的演化机理研究 被引量:2
3
作者 赵雷 柴国荣 陈俊喜 《重庆大学学报(社会科学版)》 CSSCI 北大核心 2016年第4期19-25,共7页
越来越多的传统企业与创客空间进行合作创新以实现产业模式转型,但创新合作中的诚信问题却大大影响了双方合作的积极性和有效性。考虑创新网络系统中信息流动的影响因素,建立了传统企业与创客空间合作创新的演化博弈模型,从均衡点稳定... 越来越多的传统企业与创客空间进行合作创新以实现产业模式转型,但创新合作中的诚信问题却大大影响了双方合作的积极性和有效性。考虑创新网络系统中信息流动的影响因素,建立了传统企业与创客空间合作创新的演化博弈模型,从均衡点稳定性、诚信合作条件、合作空间解集和博弈演化路径等对模型进行分析,并进一步讨论了分配比例、协同系数、激励因子、发现概率、惩罚因子和诚信合作次数对博弈演化的影响,最后通过仿真模拟进行了算例分析,以期相关结论可以在一定程度上促进双方诚信合作,实现新的创新模式升级。 展开更多
关键词 传统企业 创客空间 诚信 合作创新 演化博弈
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一种CPGA微电子器件PIND夹具及试验方法研究 被引量:1
4
作者 周帅 吕宏峰 +1 位作者 王斌 黄煜华 《中国测试》 CAS 北大核心 2019年第12期31-35,共5页
根据气密封装微电子器件粒子碰撞噪声检测(PIND)原理及试验要求,优化PIND试验方法,并提出被试器件内腔高度与频率的计算公式。然后,分析芯腔面向下的陶瓷针栅阵列封装(CPGA)微电子器件内部结构特点,从材料的刚性、共振频率、能量传递及... 根据气密封装微电子器件粒子碰撞噪声检测(PIND)原理及试验要求,优化PIND试验方法,并提出被试器件内腔高度与频率的计算公式。然后,分析芯腔面向下的陶瓷针栅阵列封装(CPGA)微电子器件内部结构特点,从材料的刚性、共振频率、能量传递及安装方式等方面设计适用于该类封装器件的PIND试验夹具。最后,分别采用人工引入金属及非金属多余物的方式制作CPGA微电子器件盲样。研究结果表明:该夹具及试验方法可以有效解决芯腔面向下的CPGA微电子器件PIND试验共性问题,同时也为其他封装类型器件的PIND试验及后续标准的修订提供依据和帮助。 展开更多
关键词 CPGA器件 PIND试验 芯腔向下 多余颗粒 夹具设计
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PECVD形成纳米级薄膜界面陷阱特性的雪崩热电子注入研究
5
作者 陈蒲生 陈闽捷 张昊 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期51-55,共5页
采用雪崩热电子注入技术研究了纳米级SiOxNy薄膜界面陷阱特性。证实了PECVD SiOxNy薄膜中界面陷阱来源于悬挂键的物理模型。观察到该纳米膜内存在着受主型电子陷阱,随着注入的增长,界面上产生的这种陷阱将起主导作用。发现到界面陷阱密... 采用雪崩热电子注入技术研究了纳米级SiOxNy薄膜界面陷阱特性。证实了PECVD SiOxNy薄膜中界面陷阱来源于悬挂键的物理模型。观察到该纳米膜内存在着受主型电子陷阱,随着注入的增长,界面上产生的这种陷阱将起主导作用。发现到界面陷阱密度随雪崩热电子注入剂量增加而增大,禁带上半部增大得较下半部显著。指出了雪崩注入过程中在SiOxNy界面上产生两种性质不同的电子陷阱,并给出它们在禁带中的位置与密度大小关系。揭示出PECVD法形成的SiOxNy纳米膜与快速热氮化制备的这种薄膜中、氮氧含量不同、界面陷阱特性变化关系不一样,并从形成薄膜氮化机制上予以合理的物理解析。给出了PECVD形成纳米级薄膜的优化工艺条件。 展开更多
关键词 PECVD 纳米级薄膜 界面陷阱 雪崩热电子注入 SiOxNy界面
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大气颗粒物中无机元素特性的研究 被引量:39
6
作者 郭璇华 高瑞英 +2 位作者 黄瑞毅 钟平生 黄如棣 《环境科学与技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期49-51,共3页
介绍用ICP-MS方法分析大气颗粒物中的无机元素,研究了部分污染元素在不同粒径颗粒物中的富集特征以及不同季节的浓度变化,并采用富集因子法对颗粒物的来源进行初步探讨。
关键词 ICP—MS 大气颗粒物 无机元索 环境科学
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智能电能表可靠性评价方法研究与探讨 被引量:25
7
作者 薛阳 张蓬鹤 +3 位作者 王雅涛 何胜宗 彭泽亚 武慧薇 《电测与仪表》 北大核心 2016年第13期90-94,99,共6页
智能电能表批量上线之前如何评价其可靠性是一项重要的研究课题。阐述了产品典型失效特征以及当前用于考核电能表的可靠性特征指标的不足之处。从电能表的环境剖面和任务剖面入手,探讨分析了当前的验收检验项目,以及电能表的主要缺陷和... 智能电能表批量上线之前如何评价其可靠性是一项重要的研究课题。阐述了产品典型失效特征以及当前用于考核电能表的可靠性特征指标的不足之处。从电能表的环境剖面和任务剖面入手,探讨分析了当前的验收检验项目,以及电能表的主要缺陷和敏感应力。提出了一种电能表的可靠性评价建议方案,实际评价案例结果表明该方案具有一定的评价效果,也为可靠性量化评价作了铺垫。 展开更多
关键词 智能电能表 可靠性评价 可靠性 缺陷
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信息系统安全风险评估技术分析 被引量:13
8
作者 杨晓明 罗衡峰 +3 位作者 范成瑜 陈明军 周世杰 张利 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2008年第8期1920-1923,共4页
信息系统安全的风险评估是建立信息系统安全体系的基础和前提。在对国内外现有的信息安全风险评估方法与技术进行归纳和较系统的介绍的基础上,指出了目前信息安全风险评估需要解决的问题,对未来信息系统安全风险评估的发展前景进行了分析。
关键词 信息系统 信息安全 风险评估
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面向大数据的异构网络安全监控及关联算法研究 被引量:19
9
作者 刘兰 林军 蔡君 《电信科学》 北大核心 2014年第7期84-89,共6页
我国信息安全战略在大数据时代需考虑大规模、异构的网络安全行为的复杂性和时效性问题。针对大数据具有的数据量巨大、查询分析复杂的特点,分析面向大数据的异构网络安全监控的相关技术,提出对各类异构数据源进行清洗整合,通过安全事... 我国信息安全战略在大数据时代需考虑大规模、异构的网络安全行为的复杂性和时效性问题。针对大数据具有的数据量巨大、查询分析复杂的特点,分析面向大数据的异构网络安全监控的相关技术,提出对各类异构数据源进行清洗整合,通过安全事件的关联和分布式序列图模式等方式进行网络安全监控的整体态势分析,为大数据环境下的异构网络安全监控提供了一些思路,也为信息安全企业提供了一个分析大数据下隐含规律的参考模型。 展开更多
关键词 大数据 关联算法 数据模型 信息安全
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紫外/臭氧法PDMS表面亲水改性机理研究 被引量:9
10
作者 吕宏峰 闫卫平 +1 位作者 刘志环 李杰超 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第4期1033-1037,共5页
紫外/臭氧改性法是一种操作简单、成本低廉的PDMS表面亲水改性方法。采用该方法对PDMS表面进行亲水改性,利用接触角测量仪对改性效果进行评价,并与PDMS无臭氧紫外法进行了比较。测试表明PDMS表面经紫外/臭氧法处理12小时后,表面接触角达... 紫外/臭氧改性法是一种操作简单、成本低廉的PDMS表面亲水改性方法。采用该方法对PDMS表面进行亲水改性,利用接触角测量仪对改性效果进行评价,并与PDMS无臭氧紫外法进行了比较。测试表明PDMS表面经紫外/臭氧法处理12小时后,表面接触角达到60°左右,在空气中放置两周后仍保持较好的亲水性。其改性机理可以通过多种表征手段进行分析。红外光谱测试可以看出,PDMS在经过紫外/臭氧改性后,其表面官能团变化明显,随改性时间延长,疏水基团—CH3逐渐减少,亲水基团Si—OH和—OH逐步增加,二氧化硅典型红外光谱峰也同时出现。通过扫描电镜和能谱测试可以看出,PDMS表面经过改性产生了二氧化硅为主的硅的氧化物。综合上述结果,紫外/臭氧处理法能够使PDMS表面亲水基团增多,同时生成类玻璃态SiO_x薄层,既改善了PDMS表面的亲水性,又阻止了PDMS表面疏水性的完全恢复,亲水性可以长时间保持。 展开更多
关键词 聚二甲基硅氧烷 紫外/臭氧法 表面改性 亲水性
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N沟道增强型MOSFET人体静电放电模型特性分析
11
作者 兰晋玲 唐雨蒙 +3 位作者 王斌 唐锐 康如军 陈海鑫 《中国测试》 北大核心 2025年第S1期176-181,共6页
作为一种静电敏感型器件,MOSFET因极高的输入电阻和极小的栅-源极间电容,极易受人体静电放电影响。针对这一问题,本研究对一款典型N沟道增强型MOSFET器件进行了人体静电放电模型(HBM)特性分析,探究其静电失效阈值电压及失效机理。首先... 作为一种静电敏感型器件,MOSFET因极高的输入电阻和极小的栅-源极间电容,极易受人体静电放电影响。针对这一问题,本研究对一款典型N沟道增强型MOSFET器件进行了人体静电放电模型(HBM)特性分析,探究其静电失效阈值电压及失效机理。首先对器件进行HBM测试前的功能参数测试,其次对器件进行HBM测试,同步探究了不同HBM电压下器件试验前后的电流-电压特性,结合HBM测试后的器件的功能参数测试结果发现当HBM电压大于1500V时会导致器件失效,其失效机理主要是静电放电导致的栅极氧化层击穿。这一结论为MOSFET器件的静电防护设计提供了重要参考依据。 展开更多
关键词 HBM MOSFET 电流-电压特性 失效机理
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风险分析方法研究 被引量:16
12
作者 郭红芳 曾向阳 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期131-132,186,共3页
风险分析是信息系统风险管理的重要组成部分,是建立信息系统安全管理体系的重要前提.试图探讨一套可用于定性及定量风险分析的模型,即用风险树分析法对信息系统安全事件发生概率以及导致安全事件的必要条件一风险模式进行分析,进而... 风险分析是信息系统风险管理的重要组成部分,是建立信息系统安全管理体系的重要前提.试图探讨一套可用于定性及定量风险分析的模型,即用风险树分析法对信息系统安全事件发生概率以及导致安全事件的必要条件一风险模式进行分析,进而用风险模式、影响及危害度分析法对风险模式的危害度及风险损失进行分析,最后用风险矩阵对风险作出最后的评估与决策. 展开更多
关键词 风险树分析 风险模式 风险评估 信息系统 信息安全 计算机
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10keV X射线空间辐照总剂量试验可行性研究 被引量:4
13
作者 李若瑜 李斌 +1 位作者 罗宏伟 师谦 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期291-295,共5页
传统辐照总剂量试验的辐射源均采用60Co,对环境危害较大。X射线作为辐射源具有安全、剂量率控制准确等优点,可进行硅片级的测试甚至在线测试,从而大大降低封装、测试、运输的成本,提高研发效率。从辐射机理和辐射对栅氧化层影响的角度... 传统辐照总剂量试验的辐射源均采用60Co,对环境危害较大。X射线作为辐射源具有安全、剂量率控制准确等优点,可进行硅片级的测试甚至在线测试,从而大大降低封装、测试、运输的成本,提高研发效率。从辐射机理和辐射对栅氧化层影响的角度深入地论证了用10keVX射线代替60Co作为总剂量试验辐射源的可行性。 展开更多
关键词 总剂量 X射线 试验 辐照 ^60CO 空间 辐射源 环境危害 在线测试 栅氧化层 辐射机理 剂量率 硅片 封装
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互连铝通孔电迁移特征及其可靠性研究 被引量:4
14
作者 江清明 周继承 +1 位作者 杨春晖 章晓文 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第10期843-846,共4页
研究了超大规模集成电路铝互连系统中铝通孔的电迁移失效机理及其可靠性寿命评价技术。试验采用CMOS和BiCMOS两种工艺各3组的铝通孔样品,分别在三个温度、恒定电流的加速条件下试验,以通孔开路为电迁移失效判据,最后得到了在加速条件下... 研究了超大规模集成电路铝互连系统中铝通孔的电迁移失效机理及其可靠性寿命评价技术。试验采用CMOS和BiCMOS两种工艺各3组的铝通孔样品,分别在三个温度、恒定电流的加速条件下试验,以通孔开路为电迁移失效判据,最后得到了在加速条件下互连铝通孔的电迁移寿命,其结果符合标准的威布尔分布,试验准确可行。通过电迁移模型对试验数据进行了拟合,得到了激活能、电流加速因子和温度加速因子,计算出了正常工作条件下通孔电迁移的寿命,完成了对铝通孔电迁移的研究和寿命评价。 展开更多
关键词 通孔 电迁移 可靠性评价 加速寿命
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行波管栅控电子枪栅网的结构可靠性 被引量:6
15
作者 张勇 宋芳芳 何小琦 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第2期169-173,共5页
栅控电子枪栅网的结构设计以及栅网对束流的调整作用决定其结构设计必须具有良好的抗振可靠性,同时应保证尽可能少地截获电子枪发射的电子束,以防止发生打火和栅极发射。本文使用有限元模拟技术对栅控电子枪栅网进行模态分析,模拟分析... 栅控电子枪栅网的结构设计以及栅网对束流的调整作用决定其结构设计必须具有良好的抗振可靠性,同时应保证尽可能少地截获电子枪发射的电子束,以防止发生打火和栅极发射。本文使用有限元模拟技术对栅控电子枪栅网进行模态分析,模拟分析了不同栅网尺寸的模态频率和模态振型,并对影响模态频率的因素进行探讨,为栅网的结构进行优化设计。 展开更多
关键词 栅控电子枪 栅网 结构可靠性 有限元法
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IPv6网络环境下的蠕虫传播模型研究 被引量:9
16
作者 苏飞 林昭文 +1 位作者 马严 杨晓明 《通信学报》 EI CSCD 北大核心 2011年第9期51-60,共10页
研究了IPv6网络中,蠕虫在子网间和子网内传播的多种扫描策略;讨论了基于P2P的去重复和可控机制;研究了一种能够在IPv6网络中形成大规模传播的新型混合式蠕虫——NHIW。NHIW具有随机扫描蠕虫的特点,同时能够迅速获取子网内的易感染活跃主... 研究了IPv6网络中,蠕虫在子网间和子网内传播的多种扫描策略;讨论了基于P2P的去重复和可控机制;研究了一种能够在IPv6网络中形成大规模传播的新型混合式蠕虫——NHIW。NHIW具有随机扫描蠕虫的特点,同时能够迅速获取子网内的易感染活跃主机IPv6地址,并能解决重复感染的问题。通过研究NHIW不同传播阶段的时延,理论分析其传播率,建立了NHIW的3层传播模型TLWPM。实验表明,NHIW能够在IPv6网络中形成大规模传播。最后,针对NHIW的特点,讨论了相关防御策略。 展开更多
关键词 IPV6网络 网络蠕虫 蠕虫模型 扫描策略 时延
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玻纤、粉煤灰增强MC尼龙复合材料的研究 被引量:16
17
作者 闫杰 熊党生 《塑料工业》 CAS CSCD 北大核心 2004年第12期14-15,32,共3页
利用铸型尼龙 (MC尼龙 )静态浇铸的原理 ,通过阴离子聚合制得了玻纤、粉煤灰增强MC尼龙。研究了不同玻纤和粉煤灰质量分数对复合材料性能的影响。结果表明 ,用这种方法制得的玻纤、粉煤灰增强MC尼龙的机械性能较普通MC尼龙有较大幅度提... 利用铸型尼龙 (MC尼龙 )静态浇铸的原理 ,通过阴离子聚合制得了玻纤、粉煤灰增强MC尼龙。研究了不同玻纤和粉煤灰质量分数对复合材料性能的影响。结果表明 ,用这种方法制得的玻纤、粉煤灰增强MC尼龙的机械性能较普通MC尼龙有较大幅度提高 ,纤维在基体中的分散性好 ,与基体的粘接性也相当好 ;加入 3 0 %玻璃纤维和10 %粉煤灰可使复合材料的拉伸强度提高 13 8%、弯曲强度提高 3 2 8%、弯曲弹性模量提高 110 %、无缺口冲击韧性提高 44 2 %、而硬度提高 49 6%。 展开更多
关键词 MC尼龙 玻璃纤维 粉煤灰 增强
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高分子助剂析出的原因及防治研究 被引量:6
18
作者 徐焕翔 蔡颖颖 +1 位作者 唐雁煌 刘子莲 《塑料工业》 CAS CSCD 北大核心 2017年第3期134-137,共4页
高分子助剂析出是高分子制品的常发问题,通过几个案例的分析探讨,分析了高分子助剂析出的形式、原因及其危害,同时针对此问题提出了相应的防治对策。
关键词 高分子助剂 析出 红外光谱
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供应链管理环境下的连锁零售企业运营绩效评价体系研究 被引量:5
19
作者 丁欣 杨善林 李敏 《科技进步与对策》 CSSCI 北大核心 2005年第12期16-18,共3页
供应链管理环境的出现导致了企业运营管理模式的转变。传统的绩效评价方法已经无法满足企业的需求。在深入分析供应链管理环境下连锁零售企业的运营特点和平衡计分卡理论的基础上,提出了以平衡计分卡作为绩效评价体系理论基础的新思路,... 供应链管理环境的出现导致了企业运营管理模式的转变。传统的绩效评价方法已经无法满足企业的需求。在深入分析供应链管理环境下连锁零售企业的运营特点和平衡计分卡理论的基础上,提出了以平衡计分卡作为绩效评价体系理论基础的新思路,并由此构建了针对连锁零售企业的新的评价指标体系框架。 展开更多
关键词 绩效评价 供应链管理 连锁零售企业
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电子产品可靠性评价与物理模型应用探讨 被引量:8
20
作者 支越 孙大鹏 +1 位作者 王之哲 罗宏伟 《压电与声光》 CAS 北大核心 2019年第4期613-616,共4页
该文以电子产品的故障为出发点,从集成电路-封装、集成电路-芯片、电路板(或线路板)、电子元件、系统和多系统的角度论述了不同任务环境下电子器件的故障机理特点。系统论述了故障模式、影响及危害性分析(FMECA)和故障模式、机理与影响... 该文以电子产品的故障为出发点,从集成电路-封装、集成电路-芯片、电路板(或线路板)、电子元件、系统和多系统的角度论述了不同任务环境下电子器件的故障机理特点。系统论述了故障模式、影响及危害性分析(FMECA)和故障模式、机理与影响分析(FMMEA)两种故障机理分析方法,同时结合低周疲劳、高周疲劳、裂纹萌生、反应论模型、芯片失效等失效机理对故障物理元模型进行分类讨论,对电子产品可靠性评价与物理模型应用进行了系统的探讨,为电子产品可靠性评价及失效物理评估模型的选取提供了依据。 展开更多
关键词 电子产品 可靠性 故障机理分析 失效物理
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