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集成电路芯片安全隐患检测技术
被引量：
5
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作者
罗宏伟
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期1094-1097,共4页
现代信息产业的基础是集成电路,集成电路的安全性决定了信息产业的安全,在集成电路芯片设计过程中考虑不周全或恶意植入不受使用方控制的程序或电路,是对现代信息产业安全的重大挑战。通过对集成电路芯片中安全漏洞的分析,提出了三种检...
现代信息产业的基础是集成电路,集成电路的安全性决定了信息产业的安全,在集成电路芯片设计过程中考虑不周全或恶意植入不受使用方控制的程序或电路,是对现代信息产业安全的重大挑战。通过对集成电路芯片中安全漏洞的分析,提出了三种检测芯片安全隐患的方法:物理检测、电学检测和协议检测,认为采用物理检测和电学检测相结合的方式可以比较有效地检测出芯片的安全隐患,并对基于电流变化的电学检测技术进行了详细地论述。
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关键词
集成电路
安全隐患
检测技术
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职称材料
题名
集成电路芯片安全隐患检测技术
被引量：
5
1
作者
罗宏伟
机构
信息产业部电子五所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期1094-1097,共4页
文摘
现代信息产业的基础是集成电路,集成电路的安全性决定了信息产业的安全,在集成电路芯片设计过程中考虑不周全或恶意植入不受使用方控制的程序或电路,是对现代信息产业安全的重大挑战。通过对集成电路芯片中安全漏洞的分析,提出了三种检测芯片安全隐患的方法:物理检测、电学检测和协议检测,认为采用物理检测和电学检测相结合的方式可以比较有效地检测出芯片的安全隐患,并对基于电流变化的电学检测技术进行了详细地论述。
关键词
集成电路
安全隐患
检测技术
Keywords
IC
hidden security troubles
test technology
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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集成电路芯片安全隐患检测技术
罗宏伟
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
5
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