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ICP固体粉末法应用于化探样品中多元素分析
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作者 周维新 杨为民 平新忠 《岩矿测试》 CAS 1985年第2期184-185,I0018,共3页
本文介绍在国产等离子体发生器上,直接引入固体粉末试样,进行发射光谱多元素分析的方法。一次取样可以同时测定Ba、Be、B、Cr等21个元素。实验部分.一、仪器及工作条件:摄谱仪:PGS—2型平面光栅摄谱仪,光栅刻线651条/毫米,中心波长3000埃.
关键词 平面光栅摄谱仪 多元素分析 等离子体发生器 化探样品 固体粉末法 发射光谱 中心波长
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