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题名基于PLC的微焦点X射线源控制系统设计
被引量：1
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作者
邓晨晖
牛耕
刘俊标
鞠胜
殷伯华
林树峰
韩立
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机构
中国科学院电工研究所超导与新材料应用研究实验室
中国科学院大学
丹东市中讯科技有限公司
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出处
《机床与液压》
北大核心
2020年第20期93-96,共4页
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基金
国家重大科学仪器设备开发专项项目(2017YFF0107202)
中国科学院关键技术研发团队项目(GJJSTD20170005)。
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文摘
X射线显微分析技术利用X射线的穿透能力,结合精密定位和数据反演技术,可以在微米甚至亚微米尺度上展现被测样品的内部结构、密度和缺陷等特征信息。该技术已然成为一种重要的物理分析方式,且被广泛应用于生命科学、材料学和先进制造等领域。微焦点X射线源是X射线显微分析系统的核心部件之一,其性能直接影响着系统的测试分辨率和效率。针对微焦点X射线源使用中安全防护升级、工作效率提升、控制精度提高的需求,设计一套基于PLC的微焦点X射线源控制系统,并介绍该系统具体的实现过程。采用JIMA分辨测试卡进行分辨率成像实验,实现了3μm线对的分辨率,证实了该控制系统性能良好,能够满足使用需求。
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关键词
PLC控制系统设计
微焦点X射线源
微焦点成像
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Keywords
PLC control system design
Microfocus X-ray Source
Microfocus imaging
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分类号
TP24
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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