1
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氧化钨薄膜着退色机制的 XPS 和 XRD |
王晓光
江月山
杨乃恒
袁磊
庞世瑾
王毓民
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《东北大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1997 |
3
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2
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纳米碳管的STM研究 |
高聚宁
杨海强
刘宁
时东霞
江月山
薛增泉
庞世谨
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《电子显微学报》
CAS
CSCD
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1997 |
1
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3
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有机聚合物CPU的结构形态 |
高鸿钧
马立平
杨清传
陈慧英
薛增泉
庞世谨
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《电子显微学报》
CAS
CSCD
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1997 |
1
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4
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因子分析法在Ta_2O_5/Ta俄歇深度剖析上的应用 |
李敏
张强基
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《真空科学与技术》
CSCD
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1993 |
2
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5
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薄膜形成的一种新理论 |
吴全德
薛增泉
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《真空科学与技术》
CSCD
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1992 |
1
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6
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原子团、超微粒子及其功能薄膜 |
吴全德
薛增泉
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《真空科学与技术》
CSCD
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1992 |
2
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7
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有机功能复合薄膜在纳米电子学中应用的研究 |
高鸿钧
赵文斌
边志喜
薛增泉
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1996 |
0 |
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8
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氧化镍及氧化钨薄膜电致变色机制的研究 |
王晓光
江月山
杨乃恒
袁磊
王毓民
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《真空科学与技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1997 |
0 |
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9
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用于制备金属超微粒子-有机薄膜的离子团束(ICB)镀-飞行时间质谱(TOFMS)系统 |
高鸿钧
刘惟敏
赵兴珏
于洪滨
薛增泉
肖桂里
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《真空科学与技术》
CSCD
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1993 |
0 |
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10
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纳米硅表面与界面的扫描隧道显微镜研究 |
高聚宁
杨海强
刘宁
时东霞
江月山
薛增泉
庞世谨
何宇亮
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《电子显微学报》
CAS
CSCD
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1997 |
0 |
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11
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俄歇定量分析基体效应校正因子的获得 |
杨新菊
陆明
张强基
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《真空科学与技术》
CSCD
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1993 |
0 |
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12
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Pd/a-Si双层膜退火后的两种新亚稳相 |
吴学华
张庶元
吴自勤
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《电子显微学报》
CAS
CSCD
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1993 |
2
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13
|
验证键应弛豫模型的一个特例(英文) |
赵玉峰
薛增泉
庞世瑾
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《北京大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
0 |
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14
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氧化锌纳米薄膜材料的制备及AES,XPS研究 |
文全胜
潘孝仁
戴慕仉
陆元成
王声乐
张强基
张勇
庞世瑾
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《真空科学与技术》
CSCD
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1995 |
0 |
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15
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(Ti,Al)N薄膜的升温出气特性研究 |
马乾廷
谢子燕
庞世瑾
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《真空科学与技术》
CSCD
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1993 |
0 |
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