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分离上皮的直接免疫荧光检查诊断口腔天疱疮 被引量:1
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作者 朱越广 李伯有 赵华婷 《中山医科大学学报》 CSCD 1999年第3期208-210,共3页
目的:对口腔粘膜损害缘分离的上皮组织作直接免疫荧光检查( D I F) ,探讨应用该技术诊断天疱疮的可靠性。方法:选择22 例口腔寻常型天疱疮,从患者口腔粘膜损害缘分离上皮,制成冰冻切片作为 D I F 的底物,用异硫氰酸荧... 目的:对口腔粘膜损害缘分离的上皮组织作直接免疫荧光检查( D I F) ,探讨应用该技术诊断天疱疮的可靠性。方法:选择22 例口腔寻常型天疱疮,从患者口腔粘膜损害缘分离上皮,制成冰冻切片作为 D I F 的底物,用异硫氰酸荧光素( F I T C)标记的兔抗人抗体染色检查,并与同一患者经传统活检取材的粘膜组织( 含部分粘膜下层的完整粘膜块) 的 D I F 检查作比较。结果:分离上皮的 D I F,22 例全部有 Ig G 沉积在棘细胞间,并有3 例 Ig A、、1 例 Ig M、13 例 C3 沉积在棘细胞间,与传统活检法的粘膜组织 D I F检查结果相同。结论:从口腔粘膜损害缘分离的上皮组织作 D I F检查,用于诊断天疱疮其结果可靠,操作简便易行,创伤轻微。 展开更多
关键词 荧光抗体技术 天疱疮 诊断 口腔粘膜疾病
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