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高温环境下SRAM器件单粒子锁定效应试验研究
被引量：
1
1
作者
李晓亮
梅博
+5 位作者
李鹏伟
孙毅
吕贺
莫日根
于庆奎
张洪伟
《航天器环境工程》
2019年第6期589-593,共5页
深空探测任务面临辐射与温度变化综合作用的恶劣环境,易导致作为航天器电子系统主要组成的CMOS集成电路发生单粒子锁定效应。着眼于在轨应用需求,针对体硅工艺SRAM器件进行了高温环境单粒子锁定试验研究,在不同电压和温度条件下开展重...
深空探测任务面临辐射与温度变化综合作用的恶劣环境,易导致作为航天器电子系统主要组成的CMOS集成电路发生单粒子锁定效应。着眼于在轨应用需求,针对体硅工艺SRAM器件进行了高温环境单粒子锁定试验研究,在不同电压和温度条件下开展重离子辐照试验,结果表明,随着器件工作电压的升高,单粒子锁定敏感性增加;随着温度升高,单粒子锁定截面增加,从常温到125℃的增幅约为1个数量级:即高温高电压下更易触发器件单粒子锁定效应。
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关键词
SRAM器件
重离子辐照
单粒子锁定
高温环境
工作电压
试验研究
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职称材料
题名
高温环境下SRAM器件单粒子锁定效应试验研究
被引量：
1
1
作者
李晓亮
梅博
李鹏伟
孙毅
吕贺
莫日根
于庆奎
张洪伟
机构
中国航天宇航元器件工程中心
出处
《航天器环境工程》
2019年第6期589-593,共5页
基金
装备发展部信息系统局XX电子元器件XX项目（编号：18XXXX0016）
文摘
深空探测任务面临辐射与温度变化综合作用的恶劣环境,易导致作为航天器电子系统主要组成的CMOS集成电路发生单粒子锁定效应。着眼于在轨应用需求,针对体硅工艺SRAM器件进行了高温环境单粒子锁定试验研究,在不同电压和温度条件下开展重离子辐照试验,结果表明,随着器件工作电压的升高,单粒子锁定敏感性增加;随着温度升高,单粒子锁定截面增加,从常温到125℃的增幅约为1个数量级:即高温高电压下更易触发器件单粒子锁定效应。
关键词
SRAM器件
重离子辐照
单粒子锁定
高温环境
工作电压
试验研究
Keywords
SRAM device
heaven ion radiation
single event latchup
high temperature
operating voltage
experimental study
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
V416.5 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
高温环境下SRAM器件单粒子锁定效应试验研究
李晓亮
梅博
李鹏伟
孙毅
吕贺
莫日根
于庆奎
张洪伟
《航天器环境工程》
2019
1
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