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题名延长EEPROM使用寿命的均匀磨损算法
被引量：3
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作者
濮建福
李世建
叶恒
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机构
中国航天上海航天电子技术研究所
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出处
《电子设计工程》
2016年第8期188-190,193,共4页
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文摘
EEPROM是电子擦除式存储器,具有非易失性的特点,被广泛使用在各种嵌入式系统中,但是由于其擦写寿命有限,约束了嵌入式系统的设计寿命。本文提出了一种延长EEPROM使用寿命的均匀磨损设计技术,通过分区存储、断点检测和参数反转,确保每个存储分区的使用次数保持基本一致,从而达到延长EEPROM使用寿命的目的。在3DEE4M08VS4145器件上进行了验证,试验结果验证了设计的可行性,可以将EEPROM的使用寿命延长约20倍。
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关键词
EEPROM
均匀磨损
分区存储
断点检测
参数反转
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Keywords
EEPROM
uniform abrasion
subarea saving
breakpoint detection
parameter inversion
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分类号
TN46
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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