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一种新的LSI/VLSI电路测试方法
1
作者
高建华
《中国纺织大学学报》
CSCD
1995年第1期116-123,共8页
本文提出一种根据输出端值的变化频度测试LSI/VLSI电路I/O线上的固定故障的方法。该方法的优点是不需待测电路功能函数,也不需标准电路作比较。文章同时讨论用软件和硬件的实现方法。
关键词
LSI
VLSI
集成电路
测试
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职称材料
题名
一种新的LSI/VLSI电路测试方法
1
作者
高建华
机构
中国纺织大学计算机科学与工程系系统结构教研室
出处
《中国纺织大学学报》
CSCD
1995年第1期116-123,共8页
文摘
本文提出一种根据输出端值的变化频度测试LSI/VLSI电路I/O线上的固定故障的方法。该方法的优点是不需待测电路功能函数,也不需标准电路作比较。文章同时讨论用软件和硬件的实现方法。
关键词
LSI
VLSI
集成电路
测试
Keywords
fault diagnosis, frequency, logical design
stuck-at faults, input-output lines.
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
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1
一种新的LSI/VLSI电路测试方法
高建华
《中国纺织大学学报》
CSCD
1995
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