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光学非线性薄膜线性参数的快速测量与分析
被引量：
1
1
作者
孙德贵
汪晓元
翁兆恒
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1995年第1期57-61,共5页
本文提出了一种光学非线性薄膜线性参数的方便有效的测量方法，测量了ＺｎＳｅ非晶态光学薄膜的线性折射率和消光系数。在此方法中，实验数据的计算与处理由一套计算机软件来完成。最后，文章对测量精度进行了简单的讨论。
关键词
光学薄膜
线性参数
快速测量
非线性
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职称材料
题名
光学非线性薄膜线性参数的快速测量与分析
被引量：
1
1
作者
孙德贵
汪晓元
翁兆恒
机构
中国科学院长春光学精机械研究所应用光学国家重点实验室
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1995年第1期57-61,共5页
文摘
本文提出了一种光学非线性薄膜线性参数的方便有效的测量方法，测量了ＺｎＳｅ非晶态光学薄膜的线性折射率和消光系数。在此方法中，实验数据的计算与处理由一套计算机软件来完成。最后，文章对测量精度进行了简单的讨论。
关键词
光学薄膜
线性参数
快速测量
非线性
Keywords
Thin film,Linear parameter,Fast measurement
分类号
O484.41 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
光学非线性薄膜线性参数的快速测量与分析
孙德贵
汪晓元
翁兆恒
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1995
1
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