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基于光源近场模型的LED光学扩展量测量方法 被引量:4
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作者 桂立 尹韶云 +3 位作者 蔡文涛 孙秀辉 杜春雷 丁学专 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第1期176-181,共6页
基于精确的LED光源近场模型,提出了一种LED光学扩展量测量方法.通过追迹LED近场光源模型中的光线数据,可获得LED光功率关于光学扩展量的关系曲线,直观反映出LED光源的光学扩展量特性和光能利用率等信息.以紫外曝光系统中的UV-LED阵列面... 基于精确的LED光源近场模型,提出了一种LED光学扩展量测量方法.通过追迹LED近场光源模型中的光线数据,可获得LED光功率关于光学扩展量的关系曲线,直观反映出LED光源的光学扩展量特性和光能利用率等信息.以紫外曝光系统中的UV-LED阵列面光源为例,对三款不同型号的UV-LED进行了实际测量.通过测量得到的光学扩展量和光能利用率曲线,可以对UV-LED的光束质量作出判断,并为阵列面光源的优化设计提供帮助. 展开更多
关键词 非成像光学 光学扩展量 光源近场 发光二极管 光学设计
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半导体激光器堆栈填充因子对慢轴光束准直的影响 被引量:3
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作者 汪岳峰 雷呈强 +3 位作者 殷智勇 尹韶云 孙秀辉 王军阵 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第5期50-55,共6页
为实现基于微透镜阵列的高功率半导体激光器堆栈光束整形,对带有快轴准直透镜的高功率半导体激光器堆栈慢轴光束准直技术进行研究。在慢轴光束准直理论分析基础上,着重研究了慢轴填充因子对其光束准直的影响,并对不同填充因子的半导体... 为实现基于微透镜阵列的高功率半导体激光器堆栈光束整形,对带有快轴准直透镜的高功率半导体激光器堆栈慢轴光束准直技术进行研究。在慢轴光束准直理论分析基础上,着重研究了慢轴填充因子对其光束准直的影响,并对不同填充因子的半导体激光器慢轴光束准直方案进行了分析。针对实际使用的填充因子0.5的高功率半导体激光器堆栈采用以Bar条为单元进行整体准直设计,并采用基于空间扫描法的发散角测试装置对慢轴准直后剩余发散角进行测试,实现准直后剩余发散角半角2.12°,实验表明该准直方法的有效性。 展开更多
关键词 激光光学 半导体激光器堆栈 慢轴准直 柱透镜 剩余发散角
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微透镜阵列误差对半导体激光匀化性能的影响 被引量:3
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作者 雷呈强 汪岳峰 +3 位作者 殷智勇 尹韶云 孙秀辉 杜春雷 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第9期13-19,共7页
为了减小微透镜阵列误差对匀化光斑的影响,深入研究微透镜阵列光束匀化系统中微透镜阵列相对位置误差对光束匀化性能的影响,设计了一种微透镜阵列光束匀化系统。依据相对位置误差类型的不同,将双列微透镜阵列间六个自由度变化导致的误... 为了减小微透镜阵列误差对匀化光斑的影响,深入研究微透镜阵列光束匀化系统中微透镜阵列相对位置误差对光束匀化性能的影响,设计了一种微透镜阵列光束匀化系统。依据相对位置误差类型的不同,将双列微透镜阵列间六个自由度变化导致的误差分为距离误差、偏移误差以及转动误差进行分析,并对每种误差对光束匀化性能的影响进行了研究。采用6板条半导体激光器堆栈对上述匀化系统进行实验验证,实现了均匀性为90.75%的光斑,并对系统影响光斑性能的原因进行了分析。 展开更多
关键词 激光技术 微透镜阵列 位置误差 半导体激光 均匀光斑
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宽光谱干涉显微术快速提取内指纹 被引量:6
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作者 王金玉 雷鸣 +2 位作者 尹韶云 李刚 汪岳峰 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2018年第1期26-30,共5页
指纹识别是一种广泛应用的生物特征识别技术,但现有指纹身份识别装置由于容易被指纹膜欺骗而存在安全问题,手指表面弄脏、太湿或者磨损也会导致识别失效,存在鲁棒性差的问题。手指内部220~550μm的皮肤层,具有表面(外部)指纹相同的拓扑... 指纹识别是一种广泛应用的生物特征识别技术,但现有指纹身份识别装置由于容易被指纹膜欺骗而存在安全问题,手指表面弄脏、太湿或者磨损也会导致识别失效,存在鲁棒性差的问题。手指内部220~550μm的皮肤层,具有表面(外部)指纹相同的拓扑特征。这些内部层,充当"主模板"导致外部指纹按照它的形状生长,另外,手指内部的汗腺和微血管结构也和指纹有跟随形状。这些皮下指纹,和对应层面的汗腺等组织结构,具有终生不变性,我们称之为内指纹。内指纹难以仿制,可以用于准确而高度鲁棒的生物身份识别。但是目前报道的用扫频层析术获得内指纹图像,由于对二维正面图像提取需要扫描,并最终从三维指纹结构中重构正面图像,数据量大,提取速度太慢,限制了其实用性。提出一种基于宽光谱干涉显微术的手指皮肤下内部指纹成像系统,以宽光谱弱相干白光激光实现3.5μm轴向分辨率,采用低数值孔径的光路提高了穿透深度,利用光源空间非相干性和阵列探测器无需扫描一次性获得6.14mm×6.14mm的内指纹图像,实现了0.4s每帧的快速读取,并以三维分层图像展示了手指内部指纹,及其汗腺结构等特征,该工作确认了宽广谱干涉显微术快速提取内指纹用于生物识别的可行性,为高安全度生物识别提供了新方法。 展开更多
关键词 干涉显微术 光学层析相干成像 成像系统 生物身份识别 内指纹
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LD快轴准直柱透镜多参数加工公差分析理论
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作者 罗超 尹韶云 +5 位作者 夏良平 张为国 雷呈强 孙秀辉 杜春雷 罗春华 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第11期21-25,共5页
为了实现半导体激光器快轴准直柱透镜加工公差的快速、准确制定,在快轴光束准直理论分析的基础上,采用几何光学的方法建立了多参数加工公差理论模型。该模型以各个结构参数的极限偏差值作为公差初始值,以实际的加工精度作为边界条件,并... 为了实现半导体激光器快轴准直柱透镜加工公差的快速、准确制定,在快轴光束准直理论分析的基础上,采用几何光学的方法建立了多参数加工公差理论模型。该模型以各个结构参数的极限偏差值作为公差初始值,以实际的加工精度作为边界条件,并根据具体的准直设计要求进行优化,实现各个参数公差的合理、快速分配。针对常见的TO-MOUNT型号中的一款快轴发散角为36°的半导体激光器设计了快轴准直柱透镜,利用该理论模型实现快轴准直柱透镜加工公差的快速制定,引入该公差后的ZEMAX仿真结果符合准直设计要求,且仿真的出射光束发散角与理论计算结果仅有1.1%的误差。 展开更多
关键词 半导体激光器 准直柱透镜 几何光学 公差分析 极限偏差值
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基于折射率调制的表面等离子体全息衍射效率分析
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作者 王迪 尹韶云 +2 位作者 江海波 马宏博 高天元 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第4期36-42,共7页
针对折射率调制的表面等离子体全息显示方案,采用严格耦合波计算方法,仿真了变折射率薄膜正弦光栅结构参数与衍射效率的关系.结果表明,银作为表面等离子体激发材料时,0.2μm为光栅最优厚度,在此基础上,一级次光衍射效率与折射率差值、... 针对折射率调制的表面等离子体全息显示方案,采用严格耦合波计算方法,仿真了变折射率薄膜正弦光栅结构参数与衍射效率的关系.结果表明,银作为表面等离子体激发材料时,0.2μm为光栅最优厚度,在此基础上,一级次光衍射效率与折射率差值、周期呈正比增长关系.对折射率范围进行了拓展,确定了折射率调制范围在1.34~1.8、周期为0.9μm时,对应的衍射效率可达33%以上.研究结果对于优化设计表面等离子体全息显示结构具有参考意义. 展开更多
关键词 全息 表面等离子体 严格耦合波分析法 正弦光栅 衍射效率
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