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嵌入式处理器在片调试功能的验证 被引量:2
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作者 许彤 王朋宇 +4 位作者 黄海林 范东睿 朱鹏飞 郑保建 曹非 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第4期502-507,共6页
以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了基于JTAG的处理器在片调试功能的验证方法.根据在片调试的结构特征建立了功能覆盖率模型,并以访存模式为基准分步建立虚拟验证原型.整个验证将定向功能测试和指令集随机测试有机地结合起来,迅速定位了... 以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了基于JTAG的处理器在片调试功能的验证方法.根据在片调试的结构特征建立了功能覆盖率模型,并以访存模式为基准分步建立虚拟验证原型.整个验证将定向功能测试和指令集随机测试有机地结合起来,迅速定位了设计中多个难以发现的错误.最终验证的功能覆盖率达到100%,FPGA原型经长时间运行无误. 展开更多
关键词 在片调试 覆盖率模型 虚拟验证原型 定向功能测试 随机测试 龙芯1号处理器
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