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分子谱线参数测量新方法
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作者
高晓明
谈图
Hiroyuki Sasada
《量子电子学报》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第2期135-138,共4页
介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加。实验测量得到...
介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加。实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.
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关键词
光谱学
F—P腔
分子谱线参数
吸收
多光束干涉
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职称材料
题名
分子谱线参数测量新方法
被引量：
1
1
作者
高晓明
谈图
Hiroyuki Sasada
机构
中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光谱学实验室和大气光学研究中心
Depatment of Physics
出处
《量子电子学报》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第2期135-138,共4页
基金
国家863计划资源与环境技术领域基金(2006AA06Z237)
文摘
介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加。实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.
关键词
光谱学
F—P腔
分子谱线参数
吸收
多光束干涉
Keywords
Spectroscopy
F-P cavity
molecule line parameter
absorption
multi-beam interference
分类号
O433.1 [机械工程—光学工程]
O562.3 [理学—原子与分子物理]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
分子谱线参数测量新方法
高晓明
谈图
Hiroyuki Sasada
《量子电子学报》
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
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