期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
侧墙技术在相变存储器中的应用
1
作者 付英春 王晓峰 +4 位作者 张加勇 徐晓娜 马慧莉 季安 杨富华 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2012年第5期328-335,共8页
从相变存储器(phase change random access memory,PCRAM)的基本结构和工作原理出发,首先介绍了PCRAM的技术优势、面临的技术挑战、常用的解决策略以及存在的相应问题;接着阐述了在微电子加工中广泛应用的关键工艺——侧墙技术,并将其在... 从相变存储器(phase change random access memory,PCRAM)的基本结构和工作原理出发,首先介绍了PCRAM的技术优势、面临的技术挑战、常用的解决策略以及存在的相应问题;接着阐述了在微电子加工中广泛应用的关键工艺——侧墙技术,并将其在PCRAM中的应用成果进行了分类;然后从加热电极的制备、相变材料限制结构的制备、新相变材料的制备与表征和器件间互联等4个方面展开叙述;最后展望了该技术在相变存储领域应用发展的趋势。侧墙技术因其具备自对准的特点,制备工艺可控性好,制备精度不依赖于光刻精度,在纳米技术飞速发展的今天,侧墙技术将会在更高精度上发挥其作用。 展开更多
关键词 侧墙 相变存储器(PCRAM) 纳米技术 Ge2Sb2Te5 微纳加工
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部