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置氢TC4钛合金与C/SiC复合材料钎焊接头界面组织和结构
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作者 王宇欣 张丽霞 +1 位作者 王军 冯吉才 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第10期105-108,118,共4页
采用AgCu箔片对不同置氢含量的TC4钛合金与C/SiC复合材料进行了钎焊连接.借助SEM,EDS,XRD等分析手段对接头的微观组织、界面结构进行研究,并分析了钎焊工艺参数的影响.结果表明,钎焊温度810℃,保温时间10 min时,置氢含量0.3%的接头界面... 采用AgCu箔片对不同置氢含量的TC4钛合金与C/SiC复合材料进行了钎焊连接.借助SEM,EDS,XRD等分析手段对接头的微观组织、界面结构进行研究,并分析了钎焊工艺参数的影响.结果表明,钎焊温度810℃,保温时间10 min时,置氢含量0.3%的接头界面结构为置氢钛合金/针状韦德曼组织/Ti(s.s)+Ti2Cu过共析组织/Ti2Cu+TiCu+Ti3Cu4扩散带/Ag(s.s)+Cu(s.s)/Ti2Cu+Ti5Si3/TiC/复合材料.不同氢含量下接头的界面产物基本相同,但接头反应层总厚度随置氢含量的增加而增大.随着钎焊温度升高或时间延长,复合材料侧Ti5Si3等化合物逐渐增多,TiC反应层变得连续且厚度增加. 展开更多
关键词 置氢钛合金 复合材料 真空钎焊 界面结构
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