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喷气箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪研究 被引量:1
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作者 王洪建 肖沙里 +6 位作者 施军 黄显宾 杨礼兵 蔡红春 周少彤 张思群 姜蓉蓉 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期1212-1215,共4页
为了测量喷气箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.分别利用Si(111)、Mica(002)椭圆晶体作色散元件,离心率均为0.9480,布喇格角为30~67.5°,光谱信号采用半径为50mm的半圆形胶片接收,从等离... 为了测量喷气箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.分别利用Si(111)、Mica(002)椭圆晶体作色散元件,离心率均为0.9480,布喇格角为30~67.5°,光谱信号采用半径为50mm的半圆形胶片接收,从等离子体源经晶体到胶片的光路长为1430mm.在"阳"加速器装置上进行摄谱验证实验,成功获取了氩喷气等离子体X射线的光谱.测量光谱波长与理论值相符,其中Si弯晶获得的光谱分辨率(λ/Δλ=200~300)低于Mica弯晶获得的光谱分辨率(λ/Δλ=500~700).实验结果表明,该谱仪适合于喷气箍缩等离子体X射线的光谱学研究. 展开更多
关键词 X光光谱仪 光谱学 椭圆弯晶 喷气箍缩 等离子体
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Z箍缩等离子体X射线极化研究
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作者 施军 肖沙里 +4 位作者 王洪建 唐昶环 刘慎业 黄显宾 杨礼兵 《光电工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第10期32-36,共5页
针对z箍缩等离子体辐射的X射线光谱极化信息,研制了适用于z箍缩装置的X射线晶体谱仪。分光晶体使用云母(002)材料,布拉格衍射角范围为30°~60°。利用该谱仪在相互正交的方向分别对等离子体发射的X射线进行检测,用X射线... 针对z箍缩等离子体辐射的X射线光谱极化信息,研制了适用于z箍缩装置的X射线晶体谱仪。分光晶体使用云母(002)材料,布拉格衍射角范围为30°~60°。利用该谱仪在相互正交的方向分别对等离子体发射的X射线进行检测,用X射线胶片接收光谱信号。探测实验在中物院阳加速器装置上进行,实验结果表明,谱仪在相互正交的两个方向都获取了氩的类氦谱线。对比两方向X射线强度,有显著的差别。计算了氩的类氦共振线w、磁四级M2跃迁X线、互组合跃迁Y线及禁戒谱线z线的极化度,实验证明Z箍缩等离子体具有明显的各项异性。 展开更多
关键词 Z箍缩 等离子体诊断 晶体谱仪 极化光谱
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氩气Z箍缩内爆等离子体温度诊断 被引量:3
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作者 施军 肖沙里 +3 位作者 王洪建 黄显宾 杨礼兵 蔡红春 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期1819-1824,共6页
为了诊断Z箍缩等离子体电子温度,研究了氩的双电子伴线与类氦共振线的强度比和等离子体电子温度的关系。利用椭圆弯曲晶体谱仪在"阳"加速器上探测X射线光谱,采用X射线胶片接收信号。针对谱仪获取的氩的类氦谱线及类锂伴线,计... 为了诊断Z箍缩等离子体电子温度,研究了氩的双电子伴线与类氦共振线的强度比和等离子体电子温度的关系。利用椭圆弯曲晶体谱仪在"阳"加速器上探测X射线光谱,采用X射线胶片接收信号。针对谱仪获取的氩的类氦谱线及类锂伴线,计算了伴线k与共振线w的强度比以及伴线j与禁戒谱线z之和与共振线强度比,利用伴线与共振线强度比值和等离子体电子温度的关系诊断出电子温度为960~1060keV,实验结果证明谱线强度比值法是一种探测电子温度很有效的诊断方法。 展开更多
关键词 Z箍缩 X射线光谱 等离子体 电子温度
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Z箍缩等离子体X射线凸晶谱仪 被引量:3
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作者 王洪建 肖沙里 +3 位作者 施军 黄显宾 蔡红春 钱家渝 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期403-406,共4页
针对波长为0.3-0.5 nm的喷气箍缩等离子体X射线诊断,研制了一种适用的高空间分辨的晶体谱仪。色散元件采用云母(002)凸面晶体,布拉格角为37°,信号采用X射线胶片进行接收,有效接收面积为30 mm×80 mm。物理实验在"阳"加速... 针对波长为0.3-0.5 nm的喷气箍缩等离子体X射线诊断,研制了一种适用的高空间分辨的晶体谱仪。色散元件采用云母(002)凸面晶体,布拉格角为37°,信号采用X射线胶片进行接收,有效接收面积为30 mm×80 mm。物理实验在"阳"加速器装置上进行,胶片获得了氩喷气K,L壳层光谱信号,其光谱范围较宽,为0.31-0.40 nm。经解谱发现,类氦谱线有明显的基底,用最小二乘法拟合包络曲线去噪处理后,得到类氦谱线光谱分辨力为200-300。实验结果表明,该谱仪获得的X射线测量值与理论值相符,适合喷气箍缩等离子体X射线光谱的诊断。 展开更多
关键词 光谱学 凸晶体谱仪 光谱测量 X射线诊断 喷气等离子体
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X射线单色成像用透射式对数螺线晶体分析器 被引量:1
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作者 毋玉芬 肖沙里 +3 位作者 鲁建 钱家渝 阳庆国 黄显斌 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第12期2613-2618,共6页
利用对数螺线晶体在大视场范围内的保角特性,研究了一种用于等离子体X射线单色成像的透射式对数螺线晶体分析器。与反射式弯晶成像谱仪相比,该分析器具有单能成像视场更大,实现相同放大倍数时的空间排布简单等优点。根据晶体衍射成像原... 利用对数螺线晶体在大视场范围内的保角特性,研究了一种用于等离子体X射线单色成像的透射式对数螺线晶体分析器。与反射式弯晶成像谱仪相比,该分析器具有单能成像视场更大,实现相同放大倍数时的空间排布简单等优点。根据晶体衍射成像原理及对数螺线晶体的表面方程,分析了透射式对数螺线晶体分析器的成像原理以及成像性能,包括子午、弧矢放大倍数以及视场大小等。以铜靶X射线源为背光源,用研制石英晶体透射对数螺线分析器对网丝直径为100μm的金属网格进行了单色背光成像实验。实验结果表明,晶体分析器的空间分辨力约为30μm,子午和弧矢方向视场分别达到15.938 7mm和5.900 6mm。 展开更多
关键词 等离子体X射线 透射式晶体分析器 对数螺线 单色成像
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