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X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分
被引量：
99
1
作者
张勤
樊守忠
+1 位作者
潘宴山
李国会
《岩矿测试》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期19-24,共6页
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重...
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07308和GBW07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Cr、Co和Th<14.00%以外,其余各组分均小于6.00%。
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关键词
化探样品
X射线荧光光谱仪
背景位置选择
谱线重叠校正
粉末样品压片
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职称材料
题名
X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分
被引量：
99
1
作者
张勤
樊守忠
潘宴山
李国会
机构
中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所
出处
《岩矿测试》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期19-24,共6页
基金
国土资源部地质大调查项目(DKD9904017)
文摘
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07308和GBW07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Cr、Co和Th<14.00%以外,其余各组分均小于6.00%。
关键词
化探样品
X射线荧光光谱仪
背景位置选择
谱线重叠校正
粉末样品压片
Keywords
geochemical exploration sample
PW2440 X-ray fluorescence spectrometer
selected background position
spectra overlap correction
pressed powder pellet
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分
张勤
樊守忠
潘宴山
李国会
《岩矿测试》
CAS
CSCD
北大核心
2004
99
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职称材料
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