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热老化对空心电抗器匝间绝缘材料性能影响
被引量：
1
1
作者
孙勇
陈晓鹏
《现代塑料加工应用》
CAS
2022年第2期24-26,30,共4页
在280,300,320℃下对包绕电磁线的聚酰亚胺薄膜分别进行热老化试验,研究了热老化对聚酰亚胺薄膜力学性能、微观结构、热学及电学性能的影响。结果表明:热老化使聚酰亚胺薄膜结构遭到破坏,其拉伸强度显著下降,且热老化温度越高,拉伸强度...
在280,300,320℃下对包绕电磁线的聚酰亚胺薄膜分别进行热老化试验,研究了热老化对聚酰亚胺薄膜力学性能、微观结构、热学及电学性能的影响。结果表明:热老化使聚酰亚胺薄膜结构遭到破坏,其拉伸强度显著下降,且热老化温度越高,拉伸强度下降幅度越大;计算得到热老化前后聚酰亚胺薄膜的反应活化能分别为151.88kJ/mol和139.92kJ/mol;热老化后,聚酰亚胺薄膜包绕电磁线的绝缘击穿电压下降。
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关键词
聚酰亚胺薄膜
热老化
活化能
微观组织
绝缘击穿电压
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职称材料
题名
热老化对空心电抗器匝间绝缘材料性能影响
被引量：
1
1
作者
孙勇
陈晓鹏
机构
中国南方电网超高压输电公司检修实验中心
出处
《现代塑料加工应用》
CAS
2022年第2期24-26,30,共4页
文摘
在280,300,320℃下对包绕电磁线的聚酰亚胺薄膜分别进行热老化试验,研究了热老化对聚酰亚胺薄膜力学性能、微观结构、热学及电学性能的影响。结果表明:热老化使聚酰亚胺薄膜结构遭到破坏,其拉伸强度显著下降,且热老化温度越高,拉伸强度下降幅度越大;计算得到热老化前后聚酰亚胺薄膜的反应活化能分别为151.88kJ/mol和139.92kJ/mol;热老化后,聚酰亚胺薄膜包绕电磁线的绝缘击穿电压下降。
关键词
聚酰亚胺薄膜
热老化
活化能
微观组织
绝缘击穿电压
Keywords
polyimide film
thermal aging
activation energy
microstructure
insulation breakdown voltage
分类号
TM47 [电气工程—电器]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
热老化对空心电抗器匝间绝缘材料性能影响
孙勇
陈晓鹏
《现代塑料加工应用》
CAS
2022
1
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