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线性阵列逆向调制器反射光强测试实验研究 被引量:1
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作者 张来线 任建迎 +2 位作者 孙华燕 刘瑞丰 赵延仲 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2021年第6期747-751,共5页
为了分析逆向调制器的反射光场和反射光强的变化规律,利用532 nm激光照射逆向调制器阵列,测试得到了离焦量、入射角变化时的逆向调制器的反射光场和反射光强,得到了阵列调制器反射光强与单个逆向调制器反射光强关系。测试结果表明,一定... 为了分析逆向调制器的反射光场和反射光强的变化规律,利用532 nm激光照射逆向调制器阵列,测试得到了离焦量、入射角变化时的逆向调制器的反射光场和反射光强,得到了阵列调制器反射光强与单个逆向调制器反射光强关系。测试结果表明,一定范围的正离焦使反射光束发散角变小,反射光能量聚焦度好,负离焦相反。入射角使反射光场发生畸变,反射光强与入射角成反比。离焦量为0或负离焦时,阵列调制器的反射光强是单个调制器反射光强的线性叠加。 展开更多
关键词 逆向调制 线性阵列 光场分布 光强分布 离焦量 入射角
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