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神经网络在缺陷识别中的应用
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作者 董剑龙 徐美芳 《山西电子技术》 2005年第6期24-25,42,共3页
为了准确、快速地进行缺陷识别,介绍了一种新型的前馈神经网络模型,即径向基概率神经网络。与以往的算法相比,该方法具有分类识别精度高且速度快的优点。仿真获得了很好的结果。
关键词 主分量分析 径向基概率神经网络 自组织竞争神经网络 模式识别
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