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基于PDP驱动技术的行扫描芯片浪涌电压抑制方法被引量：2: 1; 作者王勇森华国环 +1 位作者何晓莹孙伟锋《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2012年第1期98-102,共5页; 分析了等离子体显示器中行扫描芯片的浪涌电压产生机理。结合浪涌电压产生机理从PDP驱动技术的角度提出抑制浪涌电压的理论方案,并以实验室PDP模组为实验载体,通过修改控制板驱动代码来实现该方案。通过实测新方案的波形,并观察PDP屏显... 展开更多; 关键词 PDP 行扫描芯片浪涌电压驱动技术; 在线阅读下载PDF 职称材料

钝化层质量对高压功率器件可靠性的影响被引量：2: 2; 作者刘侠夏晓娟孙伟锋《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期465-468,共4页; 针对钝化层质量对高压VDMOS器件可靠性的影响做了研究。通过流片生产中的产品遇到的实际问题,分析了高压VDMOS器件的钝化层可能存在的离子或者受热应力对器件可靠性的不良影响,并在实际工艺和芯片设计上作出了相应的改进,流片验证可靠... 展开更多; 关键词垂直双扩散金属氧化物场效应管可靠性钝化层; 在线阅读下载PDF 职称材料

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