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题名一种利用SA-DWT的任意形状ROI编码方法
被引量：1
- 1
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作者
丁学君
田勇
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机构
东北财经大学经济信息系
东北大学东软信息学院嵌入式系统工程系
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出处
《电讯技术》
2006年第6期150-154,共5页
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文摘
对JPEG2000的基于比例移位法进行了有效的扩展,提出了一种基于形状编码的ROI编码方法。此方法应用文中提出的VEDCC(Vertical Edge D ifferential Chain Cod ing)算法对任意形状ROI的轮廓进行编码,同时用SA-DWT算法对图像的ROI和背景区域分别进行小波变换。实验结果表明,此方法不仅能够实现多个任意形状的ROI编码,而且重构图像的任意形状ROI边缘不会因为背景区域小波系数的移位而造成图像质量下降。
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关键词
JPEG2000
感兴趣区域编码技术
SA—DWT算法
垂直边缘差分链编码(VEDCC)
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Keywords
JPEG2000
ROI coding technology
SA - DWT algorithm
VEDCC
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分类号
TN919.81
[电子电信—通信与信息系统]
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题名基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现
被引量：4
- 2
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作者
田勇
孙晓凌
申华
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机构
东北大学东软信息学院嵌入式系统工程系
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出处
《电子工程师》
2008年第12期57-59,共3页
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基金
大连市集成电路设计专项研发资金(大信发【2005】44号)
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文摘
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG(联合测试工作组)接口进行控制。设计的测试电路可测试独立的SRAM模块或作为BIST(内建自测试)电路测试嵌入式SRAM模块。验证结果表明该SRAM测试系统是非常高效的。
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关键词
SRAM(静态随机存储器)
MARCH
C-算法
JTAG
BIST
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Keywords
SRAM
March C- algorithm
JTAG
BIST （ Built-in self-test）
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分类号
TP333.3
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名集成电路可测性设计中网表的解析与实现
被引量：4
- 3
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作者
申华
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机构
东北大学东软信息学院嵌入式系统工程系
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出处
《中国集成电路》
2007年第6期54-57,共4页
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基金
受2005年信息产业部信息安全专项资金资助
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文摘
本文介绍了集成电路可测性设计项目中针对Cadence网表文件进行解析,提取待测元件之间管脚连线的方法和过程。首先分析网表文件结构,接着详细说明如何过滤网表文件中的无用信息,析取出与待测元件相关的网络节点定义,最后再从析取出的网络节点定义中提取待测元件的引脚连线信息并按照指定的文件格式输出。
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关键词
集成电路
可测性设计
网表
元件
网络结点
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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