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智能CAD系统实现途径的研究
被引量：
6
1
作者
陶树平
罗叶兴
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第5期23-29,共7页
以ＴＡＮＧＯ软件包的智能化为背景，对智能ＣＡＤ的实现途径进行了探讨．提出了一个基于ＴＡＮＧＯ的电路印制板智能ＣＡＤ系统的原型．阐述了该系统的总体结构、专家系统的设计、专家系统与ＴＡＮＧＯ的结合方式与接口设计，最后用两...
以ＴＡＮＧＯ软件包的智能化为背景，对智能ＣＡＤ的实现途径进行了探讨．提出了一个基于ＴＡＮＧＯ的电路印制板智能ＣＡＤ系统的原型．阐述了该系统的总体结构、专家系统的设计、专家系统与ＴＡＮＧＯ的结合方式与接口设计，最后用两个应用实例说明该实现途径的有效性．
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关键词
CAD
知识表示
专家系统
应用程序
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职称材料
方程组求解可视化系统VSES
2
作者
冯晖
施润身
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第S1期571-574,共4页
本文介绍方程组求解的可视化原理及其实现系统VSES,并以实例说明相对于传统处理方法的优点。
关键词
可视化
方程
图形
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职称材料
多值开关级代数在MOS电路形式验证中的应用
被引量：
3
3
作者
胡谋
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1994年第3期223-226,共4页
本文讨论了ＭＯＳ电路多值开关级代数表达式的三种标准结构．给出了将多值开关级表达式转换成布尔表达式的定理．基于这些理论，提出了ＭＯＳ电路开关级形式验证的一种方法．
关键词
形式验证
MOS电路
逻辑设计
代数
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职称材料
多值逻辑在VLSI设计与测试中的若干应用
4
作者
胡谋
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第6期92-97,共6页
本文介绍了多值逻辑在VLSI设计与测试中的若干应用。包括可作为VLSI模拟、设计与分析工具的ECSA理论;改进VLSI可测试性设计的三值扫描设计;具有自校验性能的三中取二值逻辑系统以及基于三值逻辑的制入测试技术。这些多值逻辑技术为VLSI...
本文介绍了多值逻辑在VLSI设计与测试中的若干应用。包括可作为VLSI模拟、设计与分析工具的ECSA理论;改进VLSI可测试性设计的三值扫描设计;具有自校验性能的三中取二值逻辑系统以及基于三值逻辑的制入测试技术。这些多值逻辑技术为VLSI的设计与测试提供了新的工具与途径。
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关键词
多值逻辑
VLSI
设计
测试
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职称材料
题名
智能CAD系统实现途径的研究
被引量：
6
1
作者
陶树平
罗叶兴
机构
上海铁道学院计算机工程系
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第5期23-29,共7页
文摘
以ＴＡＮＧＯ软件包的智能化为背景，对智能ＣＡＤ的实现途径进行了探讨．提出了一个基于ＴＡＮＧＯ的电路印制板智能ＣＡＤ系统的原型．阐述了该系统的总体结构、专家系统的设计、专家系统与ＴＡＮＧＯ的结合方式与接口设计，最后用两个应用实例说明该实现途径的有效性．
关键词
CAD
知识表示
专家系统
应用程序
分类号
TP391.72 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
方程组求解可视化系统VSES
2
作者
冯晖
施润身
机构
上海铁道学院计算机工程系
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
1994年第S1期571-574,共4页
文摘
本文介绍方程组求解的可视化原理及其实现系统VSES,并以实例说明相对于传统处理方法的优点。
关键词
可视化
方程
图形
分类号
TP274.2 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
多值开关级代数在MOS电路形式验证中的应用
被引量：
3
3
作者
胡谋
机构
上海铁道学院计算机工程系
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1994年第3期223-226,共4页
基金
国家自然科学基金
文摘
本文讨论了ＭＯＳ电路多值开关级代数表达式的三种标准结构．给出了将多值开关级表达式转换成布尔表达式的定理．基于这些理论，提出了ＭＯＳ电路开关级形式验证的一种方法．
关键词
形式验证
MOS电路
逻辑设计
代数
Keywords
Formal verification
MOS circuit logic design
multiple-valued logic
switch-level techniques
分类号
TN432.03 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
多值逻辑在VLSI设计与测试中的若干应用
4
作者
胡谋
机构
上海铁道学院计算机工程系
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第6期92-97,共6页
文摘
本文介绍了多值逻辑在VLSI设计与测试中的若干应用。包括可作为VLSI模拟、设计与分析工具的ECSA理论;改进VLSI可测试性设计的三值扫描设计;具有自校验性能的三中取二值逻辑系统以及基于三值逻辑的制入测试技术。这些多值逻辑技术为VLSI的设计与测试提供了新的工具与途径。
关键词
多值逻辑
VLSI
设计
测试
分类号
TN470.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
智能CAD系统实现途径的研究
陶树平
罗叶兴
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
1994
6
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职称材料
2
方程组求解可视化系统VSES
冯晖
施润身
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
1994
0
在线阅读
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职称材料
3
多值开关级代数在MOS电路形式验证中的应用
胡谋
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1994
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
多值逻辑在VLSI设计与测试中的若干应用
胡谋
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989
0
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职称材料
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