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Ge掺杂β-Ga2O3晶体的发光性能研究 被引量:1
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作者 何诺天 唐慧丽 +4 位作者 刘波 张浩 朱智超 赵衡煜 徐军 《人工晶体学报》 EI CAS 北大核心 2020年第8期1534-1540,1561,共8页
采用浮区法(FZ)生长Ge掺杂β-Ga2O3晶体,利用XRD和Raman光谱研究了掺杂对晶体结构的影响。透射光谱测试表明,随着Ge离子掺杂浓度增加,Ge∶β-Ga2O3晶体光学带隙增大。在4.67 eV紫外光激发下,Ge∶β-Ga2O3晶体的发光强度与β-Ga2O3晶体相... 采用浮区法(FZ)生长Ge掺杂β-Ga2O3晶体,利用XRD和Raman光谱研究了掺杂对晶体结构的影响。透射光谱测试表明,随着Ge离子掺杂浓度增加,Ge∶β-Ga2O3晶体光学带隙增大。在4.67 eV紫外光激发下,Ge∶β-Ga2O3晶体的发光强度与β-Ga2O3晶体相当,发光衰减时间比β-Ga2O3晶体更快。 展开更多
关键词 氧化镓 Ge掺杂 发光性能 快衰减
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