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三波长消光法测定微粒的粒径及其分布
被引量:
9
1
作者
刘铁英
郑刚
+1 位作者
虞先煌
王乃宁
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期208-210,共3页
用消光法 (L ight extinction)可以测量颗粒的平均粒径 ,而用多波长消光法 ,不仅可以测量颗粒的平均粒径 ,而且也可以测量颗粒的粒径分布。本文提出 ,当采用函数限制解法时 ,仅用 3个波长即可求出颗粒的粒径及其粒径分布 。
关键词
三波长消光法
尺寸分布
粒径
微粒
测定
在线阅读
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职称材料
消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究
被引量:
17
2
作者
郑刚
蔡小舒
+1 位作者
卫敬明
王乃宁
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期503-507,共5页
根据Mie光散射理论,本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法(Lightextinction)测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明,采用合适的最优化计算方法,光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了...
根据Mie光散射理论,本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法(Lightextinction)测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明,采用合适的最优化计算方法,光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。
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关键词
光透消光法
测量下限
微粒尺寸
尺寸测量
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职称材料
液晶折射率与电压关系的研究
被引量:
5
3
作者
楼小笑
陈家璧
+4 位作者
曹俊卿
吉建华
刘庭宇
沈建琪
庄松林
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期16-17,共2页
液晶的一个重要特性是:液晶的折射率会随所加于液晶上的电压的变化而变化。利用这一特性,我们就有可能制作焦距可变的液晶透镜,变焦液晶透镜对于解决老年人因老花而需佩戴多副眼镜的问题具有重要意义。研制这种变焦透镜的前提,首先...
液晶的一个重要特性是:液晶的折射率会随所加于液晶上的电压的变化而变化。利用这一特性,我们就有可能制作焦距可变的液晶透镜,变焦液晶透镜对于解决老年人因老花而需佩戴多副眼镜的问题具有重要意义。研制这种变焦透镜的前提,首先要掌握液晶折射率随所加电压变化的规律。本文正是对这一规律进行了研究实验,并得出了实验结果。
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关键词
液晶
折射率
测量
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职称材料
题名
三波长消光法测定微粒的粒径及其分布
被引量:
9
1
作者
刘铁英
郑刚
虞先煌
王乃宁
机构
上海理工大学仪表学院
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期208-210,共3页
基金
上海市第三届"曙光计划"资助项目
文摘
用消光法 (L ight extinction)可以测量颗粒的平均粒径 ,而用多波长消光法 ,不仅可以测量颗粒的平均粒径 ,而且也可以测量颗粒的粒径分布。本文提出 ,当采用函数限制解法时 ,仅用 3个波长即可求出颗粒的粒径及其粒径分布 。
关键词
三波长消光法
尺寸分布
粒径
微粒
测定
Keywords
Three wavelengths Light extinction Particle Size distribution
分类号
TH821 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究
被引量:
17
2
作者
郑刚
蔡小舒
卫敬明
王乃宁
机构
上海理工大学仪表学院
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期503-507,共5页
基金
上海市自然科学基金
文摘
根据Mie光散射理论,本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法(Lightextinction)测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明,采用合适的最优化计算方法,光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。
关键词
光透消光法
测量下限
微粒尺寸
尺寸测量
Keywords
Light extinction,Measurement lower limit,Particle size.
分类号
TH821.01 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
液晶折射率与电压关系的研究
被引量:
5
3
作者
楼小笑
陈家璧
曹俊卿
吉建华
刘庭宇
沈建琪
庄松林
机构
上海理工大学仪表学院
出处
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期16-17,共2页
基金
机械部基金
文摘
液晶的一个重要特性是:液晶的折射率会随所加于液晶上的电压的变化而变化。利用这一特性,我们就有可能制作焦距可变的液晶透镜,变焦液晶透镜对于解决老年人因老花而需佩戴多副眼镜的问题具有重要意义。研制这种变焦透镜的前提,首先要掌握液晶折射率随所加电压变化的规律。本文正是对这一规律进行了研究实验,并得出了实验结果。
关键词
液晶
折射率
测量
Keywords
liquid crystals,refractive index,measurement.
分类号
O753.2 [理学—晶体学]
O734.2 [理学—晶体学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
三波长消光法测定微粒的粒径及其分布
刘铁英
郑刚
虞先煌
王乃宁
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
9
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究
郑刚
蔡小舒
卫敬明
王乃宁
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998
17
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
液晶折射率与电压关系的研究
楼小笑
陈家璧
曹俊卿
吉建华
刘庭宇
沈建琪
庄松林
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1999
5
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职称材料
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