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四线法弱发光样品绝对量子产率的测量
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作者 郑永丽 张晓东 周永丰 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS 北大核心 2025年第1期95-100,共6页
弱发光样品量子产率测量困难,提出了四线法的测量方法,采用荧光光谱仪和积分球附件相结合的测量方式,主要利用衰减片的添加来实现样品荧光发射信号的相对增强,较大程度提高了弱发光样品量子产率测量的准确度。采用该装置测定了标准物质Y... 弱发光样品量子产率测量困难,提出了四线法的测量方法,采用荧光光谱仪和积分球附件相结合的测量方式,主要利用衰减片的添加来实现样品荧光发射信号的相对增强,较大程度提高了弱发光样品量子产率测量的准确度。采用该装置测定了标准物质YG晶体的绝对量子产率为42.0%,相对误差0.95%,验证了荧光分光光度计和积分球结合的方式用于绝对量子产率测量的可行性。然后介绍了四线法用于绝对量子产率测量的依据、测量过程及数据处理方法。采用四线法测量了标准样品罗丹明6G和硫酸奎宁的绝对量子产率,结果显示相对误差分别为1.3%和1.1%,远小于5.0%(量子产率允许误差),表明该方法具有较高的准确性。详细探讨了实验条件对四线法绝对量子产率测量结果的影响,发现测试的最佳条件为衰减片放于激发端、衰减后的光源强度达到荧光光谱仪检测器光强线性响应区间的上限。采用不同浓度罗丹明6G溶液模拟弱发光、中强发光以及强发光样品,分别用二线法(常规方法)和四线法测量各溶液的绝对量子产率,将测试结果与文献报导数据对比,发现四线法更适用于弱发光和中强发光样品绝对量子产率的测量,尤其用于弱发光样品测量时,相对误差由二线法的10%降至四线法的0.32%。 展开更多
关键词 绝对量子产率 四线法 衰减片 弱发光样品 标准样品
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