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^(99)Tc-HMDP中^(99)Tc的氧化态的脉冲极谱研究 被引量:1
1
作者 宋纯义 钟荔 +3 位作者 蒋子刚 吴若琦 朱桐 周以国 《复旦学报(医学版)》 CAS CSCD 1989年第4期310-314,共5页
^(99m)Tc-Hydroxy Methylene Diphosphonate(^(99m)Tc-HMDP)是良好的骨显像剂。本文则使用了^(99)TcO_4^-在HMDP介质审被Sn(Ⅱ)还原,产物^(99)Tc-HMDP中^(99)Tc的氧化态用脉冲极谱法进行了研究。在不同的pH条件下,用^(99)TcO_4^-滴定Sn(... ^(99m)Tc-Hydroxy Methylene Diphosphonate(^(99m)Tc-HMDP)是良好的骨显像剂。本文则使用了^(99)TcO_4^-在HMDP介质审被Sn(Ⅱ)还原,产物^(99)Tc-HMDP中^(99)Tc的氧化态用脉冲极谱法进行了研究。在不同的pH条件下,用^(99)TcO_4^-滴定Sn(Ⅱ)-HMDP溶液,微分脉冲极谱法测定结果为:在pH 4.0和6.0时,总的是四电子转移过程,Tc(Ⅲ)生成;在pH8.0时,有Tc(Ⅲ)和Tc(Ⅳ)生成。用Sn(Ⅱ)滴定^(99)TcO_4^-(pH 6.0),控制不同的Sn/Tc摩尔比,采用常规泳冲极谱法测定,可以有Tc(Ⅴ)、Tc(Ⅳ)或Tc(Ⅲ)生成。此外,在pH 6.0时,^(99)Tc/Sn=1:2(mol),测得配合物的组成为Tc:HMDP=1:2。 展开更多
关键词 99 羟甲基二膦酸(HMDP) 氧化态 极谱法
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碳化硅高温钠盐腐蚀的电镜研究 被引量:2
2
作者 孙荆 胡容明 Nancy J.Tighe 《电子显微学报》 CAS CSCD 1992年第1期33-36,共4页
用扫描电镜和分析电镜研究了碳酸钠对SiC的高温腐蚀,实验表明腐蚀反应首先发生在晶界上的石墨夹杂处。腐蚀的主要结构特徵是针孔腐蚀,针孔一般位于被反应消耗的颗粒及晶界处。电子显微镜研究发现,腐蚀产物除玻璃态硅酸钠外,还有结晶型... 用扫描电镜和分析电镜研究了碳酸钠对SiC的高温腐蚀,实验表明腐蚀反应首先发生在晶界上的石墨夹杂处。腐蚀的主要结构特徵是针孔腐蚀,针孔一般位于被反应消耗的颗粒及晶界处。电子显微镜研究发现,腐蚀产物除玻璃态硅酸钠外,还有结晶型硅酸钠、二氧化硅及少量的一氧化硅。从实验结果分析了碳酸钠对SiC腐蚀的反应过程。文章还介绍了带有脆性玻璃质为主的腐蚀产物的SiC的电子显微镜试样制备方法。 展开更多
关键词 碳化硅 碳酸钠 针孔腐蚀 电镜
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INCONEL 690镍基合金带极电渣堆焊工艺试验及堆焊层性能研究 被引量:2
3
作者 张茂龙 颜昌根 游俊富 《锅炉技术》 北大核心 1997年第2期24-27,共4页
讨论了实现镍基合金带极电渣堆焊工艺的基本条件,提出了一套完整的INGONEL690镍基合金带极电渣堆焊工艺,包括试板、焊材、规范参数和必要的辅助工艺措施,并分析了有关影响堆焊层质量的因素.还对堆焊层的有关力学性能、金相组织等进... 讨论了实现镍基合金带极电渣堆焊工艺的基本条件,提出了一套完整的INGONEL690镍基合金带极电渣堆焊工艺,包括试板、焊材、规范参数和必要的辅助工艺措施,并分析了有关影响堆焊层质量的因素.还对堆焊层的有关力学性能、金相组织等进行了分析研究图5、表4。 展开更多
关键词 镍基合金 带极 电渣焊 堆焊 焊接 堆焊层
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粉末样品中某些杂质元素的同位素稀释二次离子质谱定量分析方法的研究 被引量:3
4
作者 游俊富 孙希皎 曹永明 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1992年第1期40-43,共4页
在CAMECA IMS—300型和IMS—3F型离子探针上,探索了将稀释剂直接加入粉末样品中,对Y_2O_3中的Fe、Ni、Cu和Al_2O_3中的B进行定量分析的方法,报道了实验结果和存在问题。
关键词 粉末样品 同位素稀释 质谱分析
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PECVD SiC薄膜的AES研究
5
作者 刘德中 罗兴华 +2 位作者 张伟 周庆 王季陶 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1989年第3期189-192,共4页
本文介绍用俄歇电子能谱对等离子增强化学气相淀积非晶碳化硅薄膜进行组分的定量分析、深度剖析和元素的化学状态分析;不同制备条件下非晶碳化硅薄膜的一些淀积规律和工艺中的问题,并利用SiLVV和C KLL俄歇谱探讨非晶碳化硅的特征和硅、... 本文介绍用俄歇电子能谱对等离子增强化学气相淀积非晶碳化硅薄膜进行组分的定量分析、深度剖析和元素的化学状态分析;不同制备条件下非晶碳化硅薄膜的一些淀积规律和工艺中的问题,并利用SiLVV和C KLL俄歇谱探讨非晶碳化硅的特征和硅、碳的化学状态。 展开更多
关键词 PECVD 硅薄膜 化学气相淀积 AES 非晶碳 化学状态 衬底温度 光学带隙 介质薄膜 俄歇电子
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离子探针分析中质量干扰离子计数测量方法的研究
6
作者 冶宏振 孙慧龄 +1 位作者 李金荣 游俊富 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第4期387-392,共6页
因离子探针在测量Si 中注入杂质的浓度分布时不能将被测二次离子计数n_i(x_,t)、各种干扰离子(质量干扰离子、边缘效应离子及再沉积效应离子等)计数n_(in)(x_i,t)及仪器噪声计数n_n(x_i,t)分开,实测二次离子计数N_i(x_i,t)是三者之和。... 因离子探针在测量Si 中注入杂质的浓度分布时不能将被测二次离子计数n_i(x_,t)、各种干扰离子(质量干扰离子、边缘效应离子及再沉积效应离子等)计数n_(in)(x_i,t)及仪器噪声计数n_n(x_i,t)分开,实测二次离子计数N_i(x_i,t)是三者之和。按N_i(x_i,t)算出的注入杂质浓度分布常具有严重的误差,甚至是假象,故测出各种干扰离子计数及n_n(x_i,t),并将其与n_i(x_i,t)分开是待解决的重要课题。本文提出了一个测量质量干扰离子计数和仪器噪声计数的分析方法,并依此首次测出了当对要测二次离子(11)~B^+检测时所遇到的质量干扰离子计数和仪器噪声计数的统计平均值(?)_m((11)~B^+,t)与(?)_n((11)~B^+,t)。实验发现两者皆与每道采集时间t 成正比。测出(?)_m((11)~B^+,t)与(?)_n((11)~B^+,t)为测量其它干扰离子计数创造了必要条件。文后对质量干扰离子的来源和组成作了说明。 展开更多
关键词 离子探针 干扰 离子 计数 测量
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PbO_2/MnO_2半导体薄膜工艺与ESCA/AES研究
7
作者 俞志中 胡南山 蔡炳初 《应用科学学报》 CAS CSCD 1989年第1期65-70,共6页
在PbO_2中掺MnO_2,用射频偏压溅射技术制成PbO_2/MnO_2半导体薄膜,有较好的高低温特性,用它首次制成了TLMM薄膜大容量电容器.用粉末溅射法制备了纯正化学状态的MnO_2膜,已用于光电倍增管的制造.用ESCA和AES技术监测工艺过程中薄膜组分... 在PbO_2中掺MnO_2,用射频偏压溅射技术制成PbO_2/MnO_2半导体薄膜,有较好的高低温特性,用它首次制成了TLMM薄膜大容量电容器.用粉末溅射法制备了纯正化学状态的MnO_2膜,已用于光电倍增管的制造.用ESCA和AES技术监测工艺过程中薄膜组分含量及化学状态,从而调整了工艺参数与靶材比率. 展开更多
关键词 PbO2/MnO2 半导体薄膜 ESCA AES
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异质结材料及其表面金属膜的俄歇能谱研究
8
作者 严申生 李唯旦 潘慧珍 《分析测试通报》 CSCD 1991年第2期24-27,共4页
本文阐述主要使用AES研究单层或多层InP/InGaAsP异质结材料的界面,发现晶格失配会引起组分缓变。另外也分析了各种不同温度下的欧姆接触,观察到各金属之间及金属/半导体界面上的相互扩散情况。
关键词 异质材料 金属膜 俄歇能谱 AES
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我国东南部地区深源包体矿物中Mg同位素比值的离子探针研究
9
作者 周士涛 薛正镠 《地球化学》 CAS 1986年第3期278-283,共6页
本文对产于我国东、南部地区新生代碱性玄武岩中尖晶石橄榄二辉岩和尖晶石二辉橄榄岩包体矿物,应用离子探针(SIMS)线性分析和深度分析方法,测定Mg同位素比值。从SIMS所揭示的深源包体矿物Mg同位素组成异常现象来看,可以为进一步探讨地... 本文对产于我国东、南部地区新生代碱性玄武岩中尖晶石橄榄二辉岩和尖晶石二辉橄榄岩包体矿物,应用离子探针(SIMS)线性分析和深度分析方法,测定Mg同位素比值。从SIMS所揭示的深源包体矿物Mg同位素组成异常现象来看,可以为进一步探讨地幔矿物的物质来源与演化提供信息。 展开更多
关键词 碱性玄武岩 深源包体 镁同位素比值 离子探针
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正电子湮没寿命谱表面分析研究
10
作者 罗兴华 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 1989年第2期95-98,76,共5页
从表面分析方法学角度研究正电子湮没寿命谱表面分析技术。用Al_2O_3·3H_2O、硅胶表面键合物等多孔材料作实验证实,寿命谱的长寿组份的相对强度与样品的比表面积有线性的关系,寿命值能反映表面相结构、组成及极性的变化。正电子湮... 从表面分析方法学角度研究正电子湮没寿命谱表面分析技术。用Al_2O_3·3H_2O、硅胶表面键合物等多孔材料作实验证实,寿命谱的长寿组份的相对强度与样品的比表面积有线性的关系,寿命值能反映表面相结构、组成及极性的变化。正电子湮没寿命谱作表面定性分析具有优于单分子表面复盖层的检测灵敏度,并能区别表面键合有机基团的极性化学活性的能力。可应用于固液、固气、液气、液液的表面分析,测得现场实时、不损伤干扰样品原始表面的信息。 展开更多
关键词 正电子湮没 表面分析 有机基团 多孔材料 盖层 表面相 组份 正电子素 单分子层 相对强度
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Cr20Mn10Ni4Si3N钢的ESCA和AES研究
11
作者 俞志中 《仪器仪表学报》 EI CAS 1983年第1期51-58,共8页
用x光电子能谱(ESCA)和俄歇电子能谱(AES)结合氩离子轰击刻蚀技术来获得抗唆合不锈钢Cr20Mn10Ni4Si3N的组成元素在表层的随深度分布情况,并描述了Si、Mn、Ni、Cr、Fe、O、C等组成元素的表面化学状态;与普通使用的不锈钢1Cr18Ni9Ti作了... 用x光电子能谱(ESCA)和俄歇电子能谱(AES)结合氩离子轰击刻蚀技术来获得抗唆合不锈钢Cr20Mn10Ni4Si3N的组成元素在表层的随深度分布情况,并描述了Si、Mn、Ni、Cr、Fe、O、C等组成元素的表面化学状态;与普通使用的不锈钢1Cr18Ni9Ti作了比较。元素Mn在表层相当厚的深度范围内呈氧化物形态,在富氧层中富集,很可能由此对材料的抗唆性作出了贡献。观察到表面Cr的价电子密度下降及Cr LMM Auger峰的双峰结构,能量间隔约5eV;表层Cr原子的外壳层电子态也许经历了一个轨道杂化再分布过程,使得其抗氧化能力有所降低。添加Mo及进一步添加Si使表面富氧层变薄,对提高钢的耐蚀作用是有益的。 展开更多
关键词 ESCA AES 壳层 刻蚀技术 富氧 深度分布 轨道杂化 电子密度 电子态 氩离子
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双谱线光强法测试单色器带宽
12
作者 张扬祖 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第1期22-25,共4页
提出了用同一空心阴极灯发出的两根邻近的任意强度比的谱线测试原子吸收分光光度计的单色器的通带宽度的方法。
关键词 原子吸收光谱 单色器 带宽 测试
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LiNbO_3材料的离子探针测定方法研究
13
作者 游俊富 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1994年第1期38-41,共4页
在用离子探针测定LiNbO3晶体时,电荷积累会反过来阻止一次离子束的轰击,本底噪音和多原子离子干扰会影响测定的信号。本文报道了我们的测定方法、结果和存在问题。
关键词 铌酸锂晶体 离子探针 深度分析
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面接触三探针测试硅外延片的电阻率
14
作者 吴泳章 朱德平 +1 位作者 张海民 鲁松年 《分析测试学报》 CAS CSCD 1993年第2期68-71,共4页
本法(以下简称面三探针)是我国首创,它比点接触方法优越得多,可扩大目前外延片电阻率三探针测试的范围。本文阐述使用该法对校正样块硅单晶和外延片测试的情况。
关键词 探针 电阻率 外延层
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半合成青霉素粒度分布测定方法研究及应用——旋风分离器效率的评价
15
作者 顾雪梅 李楝 +1 位作者 姚再男 柴依群 《分析测试通报》 CSCD 1991年第5期74-76,共3页
在半合成青霉素的喷雾干燥工艺中所使用的旋风分离器对不同粒径的粒子具有不同效率。为全面考察生产工艺水平、提高总效率,须计算旋风分离器在特定条件下对不同粒径颗粒的分离效率。因此,对水溶性半合成青霉素粉末的粒度分布测试方法进... 在半合成青霉素的喷雾干燥工艺中所使用的旋风分离器对不同粒径的粒子具有不同效率。为全面考察生产工艺水平、提高总效率,须计算旋风分离器在特定条件下对不同粒径颗粒的分离效率。因此,对水溶性半合成青霉素粉末的粒度分布测试方法进行了探索研究,对经喷雾干燥获得的产品进行了粒度测定,并据此计算评价旋风分离器的分级效率。 展开更多
关键词 青霉素 半合成 粒度 旋风分离器
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基于变分模态分解与集成深度模型的锂电池剩余寿命预测方法 被引量:34
16
作者 王冉 后麒麟 +2 位作者 石如玉 周雁翔 胡雄 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第4期111-120,共10页
锂电池剩余寿命(RUL)预测对于锂电池安全使用至关重要。由于锂电池使用过程中存在容量再生现象和随机干扰等因素,导致单一尺度信号下单一模型的预测精度及泛化性能较差。针对上述问题,提出一种新的基于变分模态分解(VMD)与集成深度模型... 锂电池剩余寿命(RUL)预测对于锂电池安全使用至关重要。由于锂电池使用过程中存在容量再生现象和随机干扰等因素,导致单一尺度信号下单一模型的预测精度及泛化性能较差。针对上述问题,提出一种新的基于变分模态分解(VMD)与集成深度模型的锂电池剩余寿命预测方法。首先,采用变分模态分解将锂电池容量数据进行多尺度分解,得到信号的全局退化趋势和局部随机波动分量;然后,分别采用多层感知机(MLP)和长短期记忆神经网络(LSTM)对全局退化趋势和各波动分量进行建模;最后,将各个分量子模型的预测结果进行集成,获得最终的锂电池剩余寿命预测结果。实验结果表明,该方法具有较高的预测精度与稳定性。 展开更多
关键词 锂电池剩余寿命预测 变分模态分解 长短期记忆神经网络 多层感知机 集成深度模型
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直排四探针电阻率硅圆片非圆心点直径修正因子F_2的简易求法 被引量:1
17
作者 周全德 赵向娅 孙月珍 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1993年第4期60-62,共3页
介绍Si片电阻率和薄层电阻的四探针法测量中,一种简便而精确的求非圆心处F_2值的方法.
关键词 硅片 电阻率 探针 测量
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用SEMQ测定水泥石中粉煤灰颗粒界面效应的原理与方法 被引量:1
18
作者 陈沛然 袁润章 朱颉安 《硅酸盐通报》 CAS 1982年第6期67-72,共6页
一、导言利用粉煤灰作为水泥的掺合料,已为国内外许多学者所关注。粉煤灰是一种火山灰质材料。粉煤灰中不同组成、结构与形貌的玻璃质颗粒是粉煤灰具有火山灰活性的主要组份,这些玻璃质颗粒掺入水泥中不仅是作为微集料而且其表面层的活... 一、导言利用粉煤灰作为水泥的掺合料,已为国内外许多学者所关注。粉煤灰是一种火山灰质材料。粉煤灰中不同组成、结构与形貌的玻璃质颗粒是粉煤灰具有火山灰活性的主要组份,这些玻璃质颗粒掺入水泥中不仅是作为微集料而且其表面层的活性组份将参与并影响水泥的水化过程。在水化早期,粒子周围的溶液中离子浓度随距离而变化,各级中心质(各级粒子) 展开更多
关键词 粉煤灰 玻璃质 形貌 粉尘 界面过渡层 SEMQ 微集料 水泥石 火山灰 火山碎屑 水化物 界面效应 水泥浆体 颗粒
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辉光放电质谱 被引量:2
19
作者 游俊富 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1989年第1期33-36,共4页
本文介绍近年发展的辉光放电质谱计的原理、结构、特性及其应用。
关键词 辉光放电 质谱计 二次电子 扇形磁场 离子源 等离子体质谱 火花源质谱法 固体样品 同位素丰度 放电等离子体
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质量干扰引起的离子微探针深度分析误差及其消除方法 被引量:1
20
作者 冶宏振 谢宗钧 +1 位作者 黄乐斌 游俊富 《仪器仪表学报》 EI CAS 1984年第2期189-196,共8页
用离子微探针测量Si 中注入B、As 杂质的浓度分布,发现测量误差很严重,原因在于质量干扰和J.C.C.Tsai 转换公式[1]有误。通用的离子探针不能将要测的二次离子和质量干扰离子分开,但根据本文提出的“实测二次离子计数分布模式”可将两者... 用离子微探针测量Si 中注入B、As 杂质的浓度分布,发现测量误差很严重,原因在于质量干扰和J.C.C.Tsai 转换公式[1]有误。通用的离子探针不能将要测的二次离子和质量干扰离子分开,但根据本文提出的“实测二次离子计数分布模式”可将两者的离子计数分开。为了消除质量干扰离子的影响,导出两个对J.C.C.Tsai 公式的修正公式.据此得到与实际分布相符的注入杂质浓度分布,提高了仪器的测量准确度和监测极限。 展开更多
关键词 浓度分布 AS 分布(力学) 离子 杂质原子 微探针 分析误差 消除方法 质量
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