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曝光量对介质阻挡放电照相的影响 被引量:1
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作者 翁明 陈启升 吴日赐 《高压电器》 CAS CSCD 北大核心 2001年第1期14-16,共3页
本文叙述了介质阻挡放电照相技术的基本原理 ,给出了自制的实验装置 ,并研究了不同曝光时间、不同放电回路电阻对照相质量的影响。在此基础上 ,提出在采用高压纳秒脉冲放电技术的前提下 ,综合控制曝光时间和放电回路电阻 。
关键词 介质阻挡放电照相 纳秒脉冲 曝光量 汞润触点继电器 微放电
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