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扫描电镜中纳米材料的原位操纵和动态观察
被引量：
4
1
作者
吉元
王丽
+3 位作者
卫斌
张隐奇
徐学东
程文海
《北京工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期429-433,共5页
介绍了配置在扫描电镜(SEM)中的微操纵仪(MMS)的操作原理、性能及应用.MMS在水平转动(X轴),上下转动(Y轴)和线性进退(Z轴)的移动精度分别达到5,3.5,0.25nm.利用具有纳米精度的移动和定位的MMS,对BiVO_4晶体、硅藻土、蛋白石和ZnO纳米线...
介绍了配置在扫描电镜(SEM)中的微操纵仪(MMS)的操作原理、性能及应用.MMS在水平转动(X轴),上下转动(Y轴)和线性进退(Z轴)的移动精度分别达到5,3.5,0.25nm.利用具有纳米精度的移动和定位的MMS,对BiVO_4晶体、硅藻土、蛋白石和ZnO纳米线等纳米材料进行了原位操纵和动态观察.该装置可操纵质量为纳克级,尺寸为几百纳米至几微米的样品.SEM-MMS系统为原位分析纳米材料提供了一种崭新的手段.
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关键词
微操纵仪
扫描电镜(SEM)
蛋白石
纳米线
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职称材料
题名
扫描电镜中纳米材料的原位操纵和动态观察
被引量：
4
1
作者
吉元
王丽
卫斌
张隐奇
徐学东
程文海
机构
北京工业大学固体微结构与性能研究所
上海易微信息科技有限公司
出处
《北京工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期429-433,共5页
基金
国家自然科学基金(60171024)
北京市教委基金(KM200610005030)
文摘
介绍了配置在扫描电镜(SEM)中的微操纵仪(MMS)的操作原理、性能及应用.MMS在水平转动(X轴),上下转动(Y轴)和线性进退(Z轴)的移动精度分别达到5,3.5,0.25nm.利用具有纳米精度的移动和定位的MMS,对BiVO_4晶体、硅藻土、蛋白石和ZnO纳米线等纳米材料进行了原位操纵和动态观察.该装置可操纵质量为纳克级,尺寸为几百纳米至几微米的样品.SEM-MMS系统为原位分析纳米材料提供了一种崭新的手段.
关键词
微操纵仪
扫描电镜(SEM)
蛋白石
纳米线
Keywords
micromanipulator
scanning electron microscope （SEM）
opal
nanowire
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
扫描电镜中纳米材料的原位操纵和动态观察
吉元
王丽
卫斌
张隐奇
徐学东
程文海
《北京工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
4
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