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IC芯片测试设备机械抓手的速度测控 被引量:1
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作者 朱品昌 袁秀平 +1 位作者 茅红伟 倪继锋 《机床与液压》 北大核心 2009年第2期109-113,共5页
设计了集成电路芯片测试设备机械手的速度测量装置,考虑了机械手运动过程中的振动以及气缸轴老化、端部生锈所造成的运动速度与行程不稳定因素。根据测控参数对设备进行精确的调整,巧妙地解决了测试设备机械手运动速度与行程控制不良所... 设计了集成电路芯片测试设备机械手的速度测量装置,考虑了机械手运动过程中的振动以及气缸轴老化、端部生锈所造成的运动速度与行程不稳定因素。根据测控参数对设备进行精确的调整,巧妙地解决了测试设备机械手运动速度与行程控制不良所引发的芯片失效问题,有效地降低了芯片的废品率。 展开更多
关键词 机械抓手 IC成品测试界面接口板 比较器 译码电路 数码管
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逐幸存序列算法引导的快速盲均衡算法 被引量:3
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作者 赵良 汪春梅 孙洪波 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期201-206,共6页
传统的盲均衡算法无法满足信号快速均衡的要求,限制了这类算法在突发信号通信中的应用.逐幸存序列算法具有信道跟踪性能好,无判决延迟的特点,但计算量较大,难以实现实时处理.本文提出利用逐幸存序列算法实现信道参数的快速跟踪,再通过... 传统的盲均衡算法无法满足信号快速均衡的要求,限制了这类算法在突发信号通信中的应用.逐幸存序列算法具有信道跟踪性能好,无判决延迟的特点,但计算量较大,难以实现实时处理.本文提出利用逐幸存序列算法实现信道参数的快速跟踪,再通过非最小相位求逆和FIR逼近联合的方法得到线性均衡器系数,之后切换到DD-LMS算法,实现信号的快速盲均衡,为盲均衡算法在突发信号通信中的应用提供了有效的方法. 展开更多
关键词 快速盲均衡 逐幸存序列算法 非最小相位求逆 FIR逼近 DD-LMS
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