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面形测量中相关拼接模型的精确求解方法 被引量:1
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作者 李国培 于瀛洁 陈明仪 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第z2期33-34,共2页
利用相关拼接技术测量表面面形 ,可以用较小的测量口径实现较大面积表面面形的测量 ,并同时保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。在这项技术中 ,模型的建立和求解至关重要。本文针对一般模型建立和求解过程中的问题 ,提出... 利用相关拼接技术测量表面面形 ,可以用较小的测量口径实现较大面积表面面形的测量 ,并同时保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。在这项技术中 ,模型的建立和求解至关重要。本文针对一般模型建立和求解过程中的问题 ,提出了基于最小二乘迭代的求解方法。该方法不但考虑了高度信息的变化 ,而且全面考虑了在一般模型求解中简化的 x,y方向上参数的影响。 展开更多
关键词 相关拼接技术 面形测量 模型求解 迭代最小二乘法
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