期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
一种在芯片测试阶段进行产品规格区分的方法
1
作者
阳莎
崔继锋
+1 位作者
廖传钦
朱建德
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第2期153-159,共7页
介绍了逻辑电路IC芯片的两项重要参数(性能和功耗)与芯片的通用电源短路测试参数之间的强相关性。从而在IC芯片的量产阶段,利用晶圆测试阶段的通用电源短路参数进行分类的方法,来区分出不同性能和功耗规格要求的产品。在此基础上,根据...
介绍了逻辑电路IC芯片的两项重要参数(性能和功耗)与芯片的通用电源短路测试参数之间的强相关性。从而在IC芯片的量产阶段,利用晶圆测试阶段的通用电源短路参数进行分类的方法,来区分出不同性能和功耗规格要求的产品。在此基础上,根据通用电源短路参数的不同分类,在芯片内部的电熔丝里烧录不同的电压标识,使得芯片可以在系统上启动BIOS时通过读取该电压标识来决定运行芯片的电压大小,从而有助于优化产品的性能与功耗分布,进而提高产品的规格。
展开更多
关键词
电源短路测试
规格区分
晶圆允收测试(WAT)
电压标识
工艺波动
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
一种在芯片测试阶段进行产品规格区分的方法
1
作者
阳莎
崔继锋
廖传钦
朱建德
机构
上海兆芯集成电路有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第2期153-159,共7页
文摘
介绍了逻辑电路IC芯片的两项重要参数(性能和功耗)与芯片的通用电源短路测试参数之间的强相关性。从而在IC芯片的量产阶段,利用晶圆测试阶段的通用电源短路参数进行分类的方法,来区分出不同性能和功耗规格要求的产品。在此基础上,根据通用电源短路参数的不同分类,在芯片内部的电熔丝里烧录不同的电压标识,使得芯片可以在系统上启动BIOS时通过读取该电压标识来决定运行芯片的电压大小,从而有助于优化产品的性能与功耗分布,进而提高产品的规格。
关键词
电源短路测试
规格区分
晶圆允收测试(WAT)
电压标识
工艺波动
Keywords
power short test
specification differentiation
wafer acceptance test（WAT）
voltage identity
process variation
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种在芯片测试阶段进行产品规格区分的方法
阳莎
崔继锋
廖传钦
朱建德
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2017
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
