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马氏链在集成电路功耗估计中的应用被引量：3: 1; 作者吴凯林争辉《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2003年第13期162-164,共3页; 在介绍集成电路功耗的基础上，论述了RT-Level对电路的动态功耗进行分析的方法。这种方法应用随机过程中的马氏链对组合电路中的动态功耗进行分析，属于静态的分析方法，已知输入信号的统计特征和电路的逻辑功能就能够对组合电路的动态... 展开更多; 关键词超大规模集成电路功耗估计 RT-Level 随机过程马氏链; 在线阅读下载PDF 职称材料

一个有效的不完全Scan结构MOS电路的测试生成算法: 2; 作者石志钢林争辉《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 1993年第3期195-203,共9页; 本文介绍一个不完全Scan结构MOS电路的测试生成算法DALG—EX18。该算法充分考虑不完全Scan结构的特点,同时也考虑MOS电路中由三态器件引出的一些特性,在传统5值D-算法基础上,引入18值及其计算规则,加入新的处理步骤,并辅以可观值/可控... 展开更多; 关键词测试生成 D-算法 Scan结构 MOS电路; 在线阅读下载PDF 职称材料

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