期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
MEMS铂薄膜温度传感器的电阻温度系数研究 被引量:14
1
作者 侯晓伟 刘莉娜 +2 位作者 吕阳 郑良广 张丛春 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第6期825-829,共5页
采用MEMS工艺在硅衬底上制备了铂电阻薄膜温度传感器,在500℃、600℃、700℃和800℃四个温度点下对铂电阻样品进行了热处理,对样品在退火前后的电阻值进行了测试和对比分析。对800℃的退火样品的阻温特性进行了多次测量,其在零摄氏度的... 采用MEMS工艺在硅衬底上制备了铂电阻薄膜温度传感器,在500℃、600℃、700℃和800℃四个温度点下对铂电阻样品进行了热处理,对样品在退火前后的电阻值进行了测试和对比分析。对800℃的退火样品的阻温特性进行了多次测量,其在零摄氏度的电阻温度系数可达3150×10^-6/K。另外还对退火后的铂电阻样品阻温特性进行了多次升温降温测试,其升温曲线和降温曲线基本重合,表明退火处理可以明显的改善铂薄膜温度传感器的稳定性和重复性。 展开更多
关键词 铂电阻 温度传感器 微机电系统 热处理 电阻温度系数
在线阅读 下载PDF
单轴微拉伸MEMS材料力学性能测试的系统集成 被引量:5
2
作者 汪红 汤俊 +2 位作者 刘瑞 陈晖 丁桂甫 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第5期1204-1211,共8页
为了对微米尺度薄膜材料的力学性能进行测试,开发了一套成本较低的单轴微拉伸MEMS材料力学性能测试系统。首先,根据有限元模拟优化设计测试样片,使其能够易于夹持、准确对中,以利于应力和应变的测量。接着采用三维非硅UV-LIGA微加工技... 为了对微米尺度薄膜材料的力学性能进行测试,开发了一套成本较低的单轴微拉伸MEMS材料力学性能测试系统。首先,根据有限元模拟优化设计测试样片,使其能够易于夹持、准确对中,以利于应力和应变的测量。接着采用三维非硅UV-LIGA微加工技术制备了Ni薄膜样片。根据单轴拉伸测试过程和硬件构成,以Visual Basic为平台编译了一套数据采集与分析系统。最后,应用该测试系统完成对电镀Ni薄膜材料性能的测试。实验结果表明,该系统能够精确测试试样应变,精度达到0.01μm,拉伸力精度达到mN级。得到的电镀Ni薄膜材料的杨氏模量约为94.5 GPa,抗拉强度约为1.76 GPa。该系统基本满足微米尺度材料单轴微拉伸力学性能测试的需要。 展开更多
关键词 材料力学测试 微机电系统 单轴微拉伸 有限元模拟 UV-LIGA 杨氏模量
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部