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温度对不同厚度导光板翘曲变形的影响 被引量:2
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作者 苏世虎 《电子科技》 2014年第7期127-129,共3页
以中大尺寸侧入光式LED背光源的应用开发为目的,对3种不同厚度导光板在经裁切和抛光机械加工、印刷网点、高温试验后3种条件下得最大翘曲变形量进行了实验研究。实验温度为60±2℃,湿度为50%±10%RH,实验时间为24 h,实验中所用... 以中大尺寸侧入光式LED背光源的应用开发为目的,对3种不同厚度导光板在经裁切和抛光机械加工、印刷网点、高温试验后3种条件下得最大翘曲变形量进行了实验研究。实验温度为60±2℃,湿度为50%±10%RH,实验时间为24 h,实验中所用导光板的样品与量产导光板一致。实验结果表明,导光板越薄其翘曲变形受温度影响越大,但薄型导光板变形后易恢复。 展开更多
关键词 导光板 翘曲 背光源 液晶模组
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低成本内置触控技术 被引量:2
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作者 秦丹丹 夏志强 《光电子技术》 CAS 北大核心 2019年第1期58-62,共5页
目前投射电容式触摸屏被广泛应用于智能手机等移动终端,本文总结了常见触摸屏的基本原理和结构,重点讲述了内置触控技术的发展。全内置触控技术(full In-cell)将触控IC和显示IC整合在一起,有利于降低成本、实现薄型化,是触控发展的终极... 目前投射电容式触摸屏被广泛应用于智能手机等移动终端,本文总结了常见触摸屏的基本原理和结构,重点讲述了内置触控技术的发展。全内置触控技术(full In-cell)将触控IC和显示IC整合在一起,有利于降低成本、实现薄型化,是触控发展的终极目标。为了提升非晶硅产品的附加值,制备了13.46 cm触摸屏,触控走线和数据线位于同层并行排列,相较现有技术,省去了有机膜层和第三金属层(M3),工艺制程和非In-cell产品完全一致,至少可以节省两张光罩,材料成本和制程优势明显。触控采用小坑扫描方式可以达到120 Hz,关键触控性能指标准确度、精确度、线性度及抖动均可满足行业标准,且显示性能和可靠性可达到非In-cell产品同等水平。 展开更多
关键词 投射电容式触摸屏 内置触控 低成本
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一种两叠层结构TFT-LCD的端子腐蚀研究 被引量:1
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作者 仵向理 占伟 +2 位作者 王升相 孙国强 李俊森 《电子质量》 2021年第10期55-58,共4页
TFT-LCD产品的腐蚀问题是影响产品品质的主要问题之一,该文研究的腐蚀与一种新型的叠层设计有强相关。这种腐蚀在新的叠层设计应用以前没有出现过,且在新产品上只出现在叠层位置。我们通过对腐蚀位置大量的聚焦离子束(focused ion beam,... TFT-LCD产品的腐蚀问题是影响产品品质的主要问题之一,该文研究的腐蚀与一种新型的叠层设计有强相关。这种腐蚀在新的叠层设计应用以前没有出现过,且在新产品上只出现在叠层位置。我们通过对腐蚀位置大量的聚焦离子束(focused ion beam,FIB)分析,建立了失效模型:该腐蚀与两层金属(M3、M2)之间距离d有强相关,d值较小时绝缘膜(PA2)不能对M3金属形成有效的保护,在高温高湿环境下M3金属易被腐蚀。另外,该项目创新了一种通过泡酸验证产品抗腐蚀性能的方法,相比RA实验,大大缩短了验证时间,在该项目中也使用该方法对腐蚀模型的准确性进行验证。基于腐蚀的失效模型,我们对d值相关的工艺参数进行了优化调整,调整后该模式腐蚀未再出现,产品品质得到提升。 展开更多
关键词 TFT-LCD 腐蚀 叠层 品质
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TFT-LCD液晶显示行业高温高湿G线和黑团原因分析 被引量:1
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作者 王升相 赵海峰 +1 位作者 王俊荣 郑兴科 《电子质量》 2022年第2期37-43,共7页
TFT-LCD产品在高温高湿信赖性实验中的G线和黑团不良,是影响液晶显示产品品质的主要问题之一。G线与黑团会同时发生,有时也会单独发生,我们认为黑团与G线的产生有个共同原因:水汽渗入;该文重点讲述G线不良的分析内容。在显微镜下可明确... TFT-LCD产品在高温高湿信赖性实验中的G线和黑团不良,是影响液晶显示产品品质的主要问题之一。G线与黑团会同时发生,有时也会单独发生,我们认为黑团与G线的产生有个共同原因:水汽渗入;该文重点讲述G线不良的分析内容。在显微镜下可明确G线的失效直接原因为框胶覆盖下的GOA电路走线区交换孔被腐蚀,这种腐蚀在新品以及量产阶段的信赖性实验中都经常发生。部分不良品在切割边可看到明显的破损痕迹,我们认为是由于外力作用下边框密封性变差而导致水汽渗入的。但大部分失效品在切割边见不到明显异常,失效分析难度较大,一直困扰着液晶显示行业的各大厂商。近年来,我们一直致力于此类问题的分析研究,最终明确了水汽渗入的路径,建立了失效模型,并给出了一些合理的改善建议。其中一些改善措施已经实施到本公司产品上,结果令人满意。 展开更多
关键词 TFT-LCD 腐蚀 高温高湿
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色阻对残像影响的研究
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作者 范丽 陆建钢 姜炜 《数字通信世界》 2020年第1期63-64,共2页
本文通过色阻是否有离子析出,进而产生残像的验证,得出了色阻有离子的析出,从而对残像造成影响的结论。通过引入电压保持率VHR评价色阻材料,验证不同VHR色阻残像的表现,得出了电压保持率VHR越高,产品残像表现越好的结论。为实际生产应... 本文通过色阻是否有离子析出,进而产生残像的验证,得出了色阻有离子的析出,从而对残像造成影响的结论。通过引入电压保持率VHR评价色阻材料,验证不同VHR色阻残像的表现,得出了电压保持率VHR越高,产品残像表现越好的结论。为实际生产应用色阻材料的选用提供了参考。 展开更多
关键词 色阻 电压保持率 残像
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FFS液晶显示模式下残像的非对称电压补偿研究
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作者 时成瑛 蔡敏 +3 位作者 傅炯樑 王一明 秦丹丹 夏志强 《光电子技术》 CAS 北大核心 2019年第4期285-288,共4页
通过非对称电压补偿方法研究了FFS模式下的残像现象。实验结果表明在不更换盒内材料的情况下,非对称电压补偿可以快速有效地改善残像问题。同时研究了不同的材料、不同的像素结构对应的实际补偿电压。结果显示随着配向膜电阻的增加,补... 通过非对称电压补偿方法研究了FFS模式下的残像现象。实验结果表明在不更换盒内材料的情况下,非对称电压补偿可以快速有效地改善残像问题。同时研究了不同的材料、不同的像素结构对应的实际补偿电压。结果显示随着配向膜电阻的增加,补偿电压有增大趋势(0.1 V到0.3 V),正负性液晶以及不同像素结构(公共电极层分别位于最上层和中间层,Top/Mid com)呈相反趋势(+0.3 V和-0.3 V),且不同于以往的研究,最终的残像结果负性液晶好于正性液晶。不同的彩膜平坦化层材料对应的补偿电压也有较明显差异。研究为FFS液晶显示模式残像的快速改善提供了参考。 展开更多
关键词 残像 边缘场切换技术 挠曲电效应
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