针对冶金行业对半导体材料特性测试的要求,设计了一种基于STC单片机（micro control unit,MCU）和DMT48270T050_01W迪文串口液晶屏的在不同温度下测量半导体材料电阻率和电动势率特性的仪器,该仪器采用ADAM—3014专用弱电压放大模块,最...针对冶金行业对半导体材料特性测试的要求,设计了一种基于STC单片机（micro control unit,MCU）和DMT48270T050_01W迪文串口液晶屏的在不同温度下测量半导体材料电阻率和电动势率特性的仪器,该仪器采用ADAM—3014专用弱电压放大模块,最低输入电压范围在0 ～10 mV,能精确测量设计电路中各阶段待测材料两端电压,同时设计一种阶梯升温的算法,实现了在一次升温过程中在多个温度点保持稳定以满足测试的要求.实验结果表明,采用该设计能够测得精度较高的电阻率和电动势率,并实现了炉温控制精度在±2℃.展开更多
针对脑电检测的研究需要,研发了微弱EEG脑电信号采集专用芯片系统。该芯片使用斩波稳定去噪声技术,首先利用2 k Hz的斩波频率对100 Hz以下的EEG信号进行频域隔离,然后利用RRL纹波抑制环路反馈进行调制后位于chopper频率处的主要由失调...针对脑电检测的研究需要,研发了微弱EEG脑电信号采集专用芯片系统。该芯片使用斩波稳定去噪声技术,首先利用2 k Hz的斩波频率对100 Hz以下的EEG信号进行频域隔离,然后利用RRL纹波抑制环路反馈进行调制后位于chopper频率处的主要由失调与低频1/f闪烁噪声引起的纹波电压的抑制;单级斩波放大使用电流复用、亚阈值跨导增强技术对来自EEG传感器的低频（〈100 Hz）小信号（5~100μV）进行40 d B增益的稳定中频放大;级联S/H电路进行去累积毛刺滤波,配合前面斩波技术,达到整体低噪声性能;VGA/LPF通过改变输入、反馈/负载电容,分别进行增益/带宽的数字调整。EEG-DSP加速芯片实现对多通道采集的控制以及信号处理编码。设计使用SMICRF 180 nm混合工艺,使用Cadence的Spectre软件进行功能前/后仿真,使用Caliber工具进行DRC/LVS的版图验收。最后,对设计芯片进行实际测试,结果表明放大芯片关键性能为：8.1μW/通道、面积6.3 mm2/8通道、0.8μVrms（BW=100 Hz）等效输入噪声;该款自主研发的脑电斩波放大芯片性能达到国内外前列的水平,可进行正确的脑电EEG采集,可应用于可穿戴领域、对后续脑电数据分析具有重要的使用价值。展开更多
文摘针对冶金行业对半导体材料特性测试的要求,设计了一种基于STC单片机（micro control unit,MCU）和DMT48270T050_01W迪文串口液晶屏的在不同温度下测量半导体材料电阻率和电动势率特性的仪器,该仪器采用ADAM—3014专用弱电压放大模块,最低输入电压范围在0 ～10 mV,能精确测量设计电路中各阶段待测材料两端电压,同时设计一种阶梯升温的算法,实现了在一次升温过程中在多个温度点保持稳定以满足测试的要求.实验结果表明,采用该设计能够测得精度较高的电阻率和电动势率,并实现了炉温控制精度在±2℃.
