期刊文献+
共找到106篇文章
< 1 2 6 >
每页显示 20 50 100
运放失调电压的激光修调测试
1
作者 李灿 程法勇 +2 位作者 郭晓宇 王建超 韩先虎 《现代电子技术》 北大核心 2025年第6期113-117,共5页
目前高精度运算放大器的应用愈发普及,由于集成电路制造工艺的限制,运算放大器的输入级晶体管和负载电阻无法做到完全匹配,因此需要通过修调方式提高运放输入级的匹配度,以此减小失调电压。文中介绍了运放失调电压的定义和产生的原因,... 目前高精度运算放大器的应用愈发普及,由于集成电路制造工艺的限制,运算放大器的输入级晶体管和负载电阻无法做到完全匹配,因此需要通过修调方式提高运放输入级的匹配度,以此减小失调电压。文中介绍了运放失调电压的定义和产生的原因,分析了失调电压的测试方法,并对常用的失调电压修调方法进行了介绍和对比,总结了激光修调的优点。然后分析失调电压激光修调的原理,同时基于激光修调常用的几种切割方式,选择帽型电阻双线切割方式。为了达到更高的精度和良品率,提出了一种在线激光修调方法,最终通过测试数据对比分析,验证了在线激光修调的优越性。 展开更多
关键词 运算放大器 失调电压 激光修调 自动测试系统 集成电路 制造工艺
在线阅读 下载PDF
基于限制容差关系的动力舱冷却通风综合评估
2
作者 张浩 《空军工程大学学报》 北大核心 2025年第2期19-25,共7页
为拓展动力装置冷却通风试飞结果评价体系,定量评估冷却通风系统的综合性能水平,在试飞过程中发动机舱内温度测量数据存在缺失的情况下,引入综合舱温裕度的概念,开展了适用于不完备试飞数据的冷却通风综合性能评估方法研究。使用K-mean... 为拓展动力装置冷却通风试飞结果评价体系,定量评估冷却通风系统的综合性能水平,在试飞过程中发动机舱内温度测量数据存在缺失的情况下,引入综合舱温裕度的概念,开展了适用于不完备试飞数据的冷却通风综合性能评估方法研究。使用K-means聚类算法将舱温数据离散化,结合粗糙集理论的限制容差关系确定舱温指标权重,建立了一种动力舱冷却通风综合性能评估方法,并在3发构型直升机上进行算法应用,评估了冷却通风系统综合性能的影响因素。结果表明,技术状态更改和发动机装机位置对动力舱综合舱温裕度的影响较大,最大差异分别达到65.5℃和83.2℃。综合舱温裕度能够表征冷却通风综合性能,该方法具有通用性,可作为冷却通风试飞传统评估方式的补充。 展开更多
关键词 限制容差关系 冷却通风试飞 数据缺失 综合舱温裕度 K-MEANS聚类 粗糙集理论
在线阅读 下载PDF
新型IGCT直流输电换流阀运行试验研究及其等效性评估 被引量:5
3
作者 王宗泽 余占清 +4 位作者 许超群 陈政宇 屈鲁 赵彪 曾嵘 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2024年第10期4112-4122,I0031,共12页
换相失败问题(commutation failure,CF)是电网换相换流高压直流输电技术(line commutated converter high voltage directcurrent,LCC-HVDC)面临的固有难题。为了解决该问题,已有文献主要从拓扑结构、控制策略等方面着手,鲜见抵御换相... 换相失败问题(commutation failure,CF)是电网换相换流高压直流输电技术(line commutated converter high voltage directcurrent,LCC-HVDC)面临的固有难题。为了解决该问题,已有文献主要从拓扑结构、控制策略等方面着手,鲜见抵御换相失败的新型换流阀研制及试验研究。该文开展基于大功率逆阻型集成门极换流晶闸管(reverse blocking integrated gate commutated thyristor,RB-IGCT)的新型换流阀试验研究及试验等效性分析。首先,阐释新型换流阀抵御换相失败的原理,并针对新型换流阀不同的工作模式,提出对新型电力电子器件的需求。然后,利用现有的型式试验合成回路平台开展适用于传统晶闸管换流阀的运行试验,并分析试验结果,得出大部分试验项目等效性较好而小熄弧角试验和关断试验等效性较差的结论。最后,针对这两项特殊试验提出新的试验方法和试验电路,可为新型换流阀的研发和应用提供一定的技术基础。 展开更多
关键词 新型换流阀 电网换相换流器 合成试验回路 型式试验 换相失败 逆阻型集成门极换流晶闸管
在线阅读 下载PDF
基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化 被引量:1
4
作者 沈锺杰 张一圣 +1 位作者 孔锐 王建超 《现代电子技术》 北大核心 2024年第2期16-20,共5页
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次... 利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次为解决上述问题,对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进,并将改进前后的测试值与典型值进行对比。结果表明,改进措施成效显著,大大优化了高速DAC射频参数的测试指标,使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值。 展开更多
关键词 集成电路 自动测试设备(ATE) 高速数模转换器 射频参数 SFDR参数 测试码 PCB测试板
在线阅读 下载PDF
一种用于IC测试的精密测量单元电路设计
5
作者 夏进 刘士兴 +2 位作者 李航 李帮金 梁华国 《电子测量技术》 北大核心 2024年第11期13-19,共7页
随着集成电路产业的快速发展,对集成电路测试要求越来越高,精密测量单元是集成电路直流参数测试的核心单元。本文设计了一种用于集成电路测试的PMU电路,该电路使用现场可编程门阵列控制DAC模块施加电压激励,激励信号经PI调节器和功率放... 随着集成电路产业的快速发展,对集成电路测试要求越来越高,精密测量单元是集成电路直流参数测试的核心单元。本文设计了一种用于集成电路测试的PMU电路,该电路使用现场可编程门阵列控制DAC模块施加电压激励,激励信号经PI调节器和功率放大器后,通过电阻匹配网络施加到被测器件,ADC采集测试响应数据,实现加压测流、加流测压等参数测试功能。所设计的PMU电路具有测试范围宽、测量精度高的优点,施加/测量电压范围-10~+15 V、最大电流±1.838 A。对不同测试模式下的系统性能进行了校准并采用高精度电阻负载进行功能验证,实验结果表明,系统校准后的测试误差优于0.05%,能够满足通用集成电路直流参数测试的要求。 展开更多
关键词 集成电路测试 直流参数测试 精密测量单元 现场可编程阵列
在线阅读 下载PDF
数字集成电路的混合模式内建自测试方法 被引量:13
6
作者 谢永乐 孙秀斌 +2 位作者 王玉文 胡兵 陈光 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期367-370,375,共5页
为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖,提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法。通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器(LFSR)的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间,对上... 为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖,提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法。通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器(LFSR)的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间,对上述伪随机测试中未能覆盖的故障,采用一种不用存储来生成确定性测试矢量的方法。对标准电路的实验证明可获得较高的测试效率,特别适合数字集成电路的内建自测试。 展开更多
关键词 集成电路测试 内建自测试 M序列
在线阅读 下载PDF
基于交替与连续长度码的有效测试数据压缩和解压 被引量:70
7
作者 梁华国 蒋翠云 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第4期548-554,共7页
提出了新一类的变 -变长度压缩码 ,称之为交替与连续长度码 .该文在测试序列中直接编码连续的“0”和“1”以及交替变化位的长度 ,压缩一个预先计算的测试集 ,无需像其它文章中受限制仅仅编码连续的“0” .这种交替与连续长度码由两部... 提出了新一类的变 -变长度压缩码 ,称之为交替与连续长度码 .该文在测试序列中直接编码连续的“0”和“1”以及交替变化位的长度 ,压缩一个预先计算的测试集 ,无需像其它文章中受限制仅仅编码连续的“0” .这种交替与连续长度码由两部分组成 ,即交替和连续部分 .它的解压体系结构是一个简单的有限状态机并且不需要一个分离的循环扫描移位寄存器 .试验结果显示 ,这种编码能够有效地压缩测试数据 ,并且更优于Golomb和FDR码对输入数据流中的变化压缩 . 展开更多
关键词 测试集编码 变-变长度码 数据压缩 数据解压 内建自测试
在线阅读 下载PDF
应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法 被引量:27
8
作者 韩银和 李晓维 +1 位作者 徐勇军 李华伟 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1346-1350,共5页
测试资源划分是降低测试成本的一种有效方法 .本文提出了一种新的有效的对测试数据进行压缩的编码 :Variable Tail编码 ,并构建了基于该编码的测试资源划分方案 .文章的理论分析和实验研究表明了采用Variable Tail编码能取得比Golomb编... 测试资源划分是降低测试成本的一种有效方法 .本文提出了一种新的有效的对测试数据进行压缩的编码 :Variable Tail编码 ,并构建了基于该编码的测试资源划分方案 .文章的理论分析和实验研究表明了采用Variable Tail编码能取得比Golomb编码更高的压缩率 ,针对多种模式下的测试向量均能提供很好的压缩效果 ,解码器的硬件也较易实现 .文章还提出了一种整合不确定位动态赋值的测试向量排序算法 ,该算法可以进一步提高测试压缩率 .文章最后用实验数据验证了所提编码和排序算法的高效性 . 展开更多
关键词 Variable-Tail编码 Golomb编码 可适应性 测试模式 诊断模式
在线阅读 下载PDF
0.18μm CMOS 10Gb/s光接收机限幅放大器 被引量:10
9
作者 金杰 冯军 +1 位作者 盛志伟 王志功 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1393-1395,共3页
利用TSMC 0 18μmCMOS工艺设计了应用于SDH系统STM 6 4 (10Gb/s)速率级光接收机中的限幅放大器 .该放大器采用了改进的Cherry Hooper结构以获得高的增益带宽积 ,从而保证限幅放大器在 10Gb/s以及更高的速率上工作 .测试结果表明 ,此限... 利用TSMC 0 18μmCMOS工艺设计了应用于SDH系统STM 6 4 (10Gb/s)速率级光接收机中的限幅放大器 .该放大器采用了改进的Cherry Hooper结构以获得高的增益带宽积 ,从而保证限幅放大器在 10Gb/s以及更高的速率上工作 .测试结果表明 ,此限幅放大器在 10Gb/s速率上 ,输入动态范围为 4 2dB(3 2mV~ 5 0 0mV) ,5 0Ω负载上的输出限幅在 2 5 0mV ,小信号输入时的最高工作速率为 12Gb/s.限幅放大器采用 1 8V电源供电 ,功耗 110mW .芯片的面积为0 7mm× 0 9mm . 展开更多
关键词 STM-64 光接收机 限幅放大器 Cherry-Hooper结构 0.18μm CMOS工艺
在线阅读 下载PDF
数字集成电路故障检测仪 被引量:3
10
作者 赵悦 唐毅谦 蔡希彪 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z1期399-400,共2页
根据数字系统测试与可测性的原理,应用布尔差分算法推导出TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路芯片的最小测试集。以单片机为核心,由可编程I/O接口、E2PROM、RAM、键盘和LED显示器等组成数字集成电路故障检测系统,能完成对TT... 根据数字系统测试与可测性的原理,应用布尔差分算法推导出TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路芯片的最小测试集。以单片机为核心,由可编程I/O接口、E2PROM、RAM、键盘和LED显示器等组成数字集成电路故障检测系统,能完成对TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路器件的功能测试。 展开更多
关键词 故障检测 测试集 集成电路
在线阅读 下载PDF
基于神经网络的组合电路测试生成算法 被引量:13
11
作者 刘晓东 孙圣和 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期255-257,共3页
介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能... 介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能量函数 ,将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点 ,从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量 .在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间 . 展开更多
关键词 神经网络 组合电路 测试生成算法 遗传算法 集成电路
在线阅读 下载PDF
电动汽车交流充电接口控制导引电路试验设计 被引量:15
12
作者 桑林 徐洪海 管翔 《电测与仪表》 北大核心 2013年第2期112-115,120,共5页
介绍了电动汽车充电接口控制导引电路基本功能和工作原理,设计了一种在不同充电模式下进行各检测点匹配电阻及电压状态试验的方法。实现对充电接口连接状态确认、功率输出变化、正常或非正常充电停止执行行为、以及各充电阶段控制时序... 介绍了电动汽车充电接口控制导引电路基本功能和工作原理,设计了一种在不同充电模式下进行各检测点匹配电阻及电压状态试验的方法。实现对充电接口连接状态确认、功率输出变化、正常或非正常充电停止执行行为、以及各充电阶段控制时序变化的测试。试验结果表明所提出的试验方法对充电接口控制导引电路功能测试具有实用性和有效性。 展开更多
关键词 电动汽车 连接装置 充电接口 控制导引电路 试验方法
在线阅读 下载PDF
集成电路测试系统通用测试软件的研究与设计 被引量:13
13
作者 戴春翟 李晓静 张侃谕 《电子测量技术》 2010年第1期133-135,共3页
介绍了一种集成电路测试系统通用测试软件的设计方法和软件组成。利用多层次、模块化的软件结构设计方法,令描述被测器件的参数和测试程序互相分离,并以图形化的方式利用测试模块构建测试序列文件,使得该集成电路测试软件具备良好的通用... 介绍了一种集成电路测试系统通用测试软件的设计方法和软件组成。利用多层次、模块化的软件结构设计方法,令描述被测器件的参数和测试程序互相分离,并以图形化的方式利用测试模块构建测试序列文件,使得该集成电路测试软件具备良好的通用性,可维护性和可扩充性。 展开更多
关键词 集成电路 测试序列 测试参数
在线阅读 下载PDF
基于XGBoost的模拟集成电路测试参数优化方法 被引量:4
14
作者 肖寅东 曾宇通 +1 位作者 刘科 胡聪 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2023年第4期61-68,共8页
随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树... 随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法,该方法探索不同测试参数间的相互表征能力,在测试序列中依次删减可被良好表达的测试参数,在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。本文讨论了故障数目、特征重要性和SHAP值3种评估测试参数间表征能力的指标,并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验,结果表明故障数目是一种优秀的评估指标,可在测试逃逸率不超过20 PPM的条件下实现25%的测试参数优化。 展开更多
关键词 机器学习 XGBoost 集成电路测试 测试成本 测试逃逸
在线阅读 下载PDF
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 被引量:3
15
作者 欧阳丹彤 陈晓艳 +2 位作者 叶靖 邓召勇 张立明 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2019年第11期2448-2457,共10页
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短... 自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量. 展开更多
关键词 电路测试 自动测试向量生成 测试向量集 约简 故障覆盖率 极小碰集 固定型故障
在线阅读 下载PDF
低温共烧陶瓷微波多芯片组件 被引量:23
16
作者 严伟 洪伟 薛羽 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第5期711-714,共4页
低温共烧陶瓷 (LTCC)是实现小型化、高可靠微波多芯片组件 (MMCM)的一种理想的组装技术 .本文研究采用了一种三维LTCC微波传输结构 ,并采用叠层通孔实现垂直微波互连 .利用电磁场分析软件对三维微波传输结构和垂直微波互连方式进行了模... 低温共烧陶瓷 (LTCC)是实现小型化、高可靠微波多芯片组件 (MMCM)的一种理想的组装技术 .本文研究采用了一种三维LTCC微波传输结构 ,并采用叠层通孔实现垂直微波互连 .利用电磁场分析软件对三维微波传输结构和垂直微波互连方式进行了模拟和优化 ,并与试验样品的测试结果进行了对比 ,两者吻合较好 .介绍了单片微波集成电路芯片测试和微波多芯片组件键合互连方法 。 展开更多
关键词 低温共烧陶瓷 微波多芯片组件 微电子
在线阅读 下载PDF
基于布尔差分的数字逻辑电路故障诊断 被引量:4
17
作者 杨俊华 尚志恩 吕锋 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期517-520,共4页
讨论了数字系统的故障分析的内涵,阐述了故障的可测性定理,并以组合逻辑电路为例,介绍如何利用布尔差分法求解其全部测试码,给出了多重故障测试码的公式,说明了布尔差分法数字系统故障诊断的局限性。
关键词 故障诊断 测试码 组合逻辑电路 布尔差分
在线阅读 下载PDF
射频微机械CPW开关的研究 被引量:2
18
作者 张正元 温志渝 +2 位作者 徐世六 张正番 黄尚廉 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期671-673,共3页
本文采用聚酰亚胺牺牲层技术和二氧化硅介质隔离技术 ,成功地在绝缘多晶硅衬底上研制出一种射频微机械CPW开关 .初步测试结果如下 :开态电容为 0 2 1pF ,关态电容为 6 1pF ,致动电压为 2 2V ,关态下的隔离度为35dB ,开态下插入损耗为 ... 本文采用聚酰亚胺牺牲层技术和二氧化硅介质隔离技术 ,成功地在绝缘多晶硅衬底上研制出一种射频微机械CPW开关 .初步测试结果如下 :开态电容为 0 2 1pF ,关态电容为 6 1pF ,致动电压为 2 2V ,关态下的隔离度为35dB ,开态下插入损耗为 3dB .该工艺完全与硅基IC工艺兼容 ,这为射频微机械CPW开关与IC实现单片集成化 。 展开更多
关键词 射频微机械开关 CPw开关 金属膜 绝缘层 牺牲层
在线阅读 下载PDF
采用字典词条衍生模式的测试数据压缩 被引量:4
19
作者 刘杰 易茂祥 朱勇 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2012年第1期231-235,共5页
为了降低数字集成电路测试成本,压缩预先计算的测试集是一种有效的解决途径。该文根据索引位数远少于字典词条,以及测试数据中存在大量无关位,提出一种采用词条衍生和二级编码的字典压缩方案。该方案引入循环移位操作,确保无关位按序任... 为了降低数字集成电路测试成本,压缩预先计算的测试集是一种有效的解决途径。该文根据索引位数远少于字典词条,以及测试数据中存在大量无关位,提出一种采用词条衍生和二级编码的字典压缩方案。该方案引入循环移位操作,确保无关位按序任意移动而不丢失,从而扩大词条衍生性能,减少非词条向量个数。另外,采用规则的两级编码可以减少码字数量和解压电路的复杂度。实验结果表明该文所提方案能够进一步提高测试数据压缩率,减少测试时间。 展开更多
关键词 集成电路 测试数据压缩 字典压缩方案 循环移位
在线阅读 下载PDF
基于断言的模拟矢量自动生成方法 被引量:4
20
作者 李暾 郭阳 李思昆 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第10期1441-1450,共10页
VLSI模拟验证的一个关键问题是需要大量的模拟矢量来验证各种可能情况下设计的正确性.采用断言作为模拟验证的功能模型,提出和实现了一种基于断言的模拟矢量自动生成方法.针对要触发的断言,首先对设计进行化简,通过决策图模型将初始输... VLSI模拟验证的一个关键问题是需要大量的模拟矢量来验证各种可能情况下设计的正确性.采用断言作为模拟验证的功能模型,提出和实现了一种基于断言的模拟矢量自动生成方法.针对要触发的断言,首先对设计进行化简,通过决策图模型将初始输入传播到断言,并将传播过程和断言条件一起转化成CLP约束,最后求解CLP约束生成模拟矢量.该方法的优势在于运用了字级(word-level)约束求解技术,能统一处理控制电路和数据通路间的数据传播,求解效率高;基于功能模型的模拟矢量生成技术,模拟矢量生成目标更明确;与动态加速技术相结合,使搜索过程效率更高;设计化简技术的运用使搜索过程计算复杂度只与断言有关.实验结果表明,该方法能快速找到并定位设计中的错误,生成模拟矢量效率更高. 展开更多
关键词 VLSI 断言 模拟矢量自动生成
在线阅读 下载PDF
上一页 1 2 6 下一页 到第
使用帮助 返回顶部